本发明涉及单晶硅电池片的缺陷检测技术领域，公开了一种Top‑Con单晶硅电池片的缺陷检测设备及方法，包括工作台，所述工作台的一侧固定安装有办公台。本发明实现了通过在连接上座的底部活动安装有连接下座，能够通过连接上座与连接下座方便对检测相机的安装与拆卸，然后通过信息库存储电池片的各种参数，接着通过尺寸检测模块与外观检测模块对电池片的外观以及尺寸进行检测，然后通过信息对比模块将采集的数据与信息库的信息进行对比，接着通过红外检测模块对电池片内部进行检测，接着通过自动聚焦模块对电池片的外观以及尺寸检测数据更加精准，然后通过动态检测模块在检测相机移动过程中，也能对电池片进行检测工作，从而提高了检测设备的全面性。