一种单晶硅perc电池片表面的处理机床及其处理方法

    公开(公告)号:CN116525724B

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN202310817460.2

    申请日:2023-07-05

    摘要: 本发明涉及单晶硅perc电池片表面处理技术领域,公开了一种单晶硅perc电池片表面的处理机床及其处理方法,包括检测板,所述检测板的底部固定安装有定位板,所述定位板的底部皆活动安装有超声波探伤探头,所述定位板底部的两侧皆固定安装有支撑杆。本发明实现了通过拧紧定位栓,从而将超声波探伤探头进行固定,然后利用多个超声波探伤探头对单晶硅perc电池片的不同位置进行预先检测工作,可以剔除不合格种单晶硅perc电池片,提高单晶硅perc电池片加工的效率,再利用液压推杆进行伸缩,然后带动切板进行升降,从而带动切刀对不合格的单晶硅perc电池片进行裁剪工作,接着利用把手带动切槽进行位置调整,便于工作人员对废料进行回收再利用。

    一种Top-Con单晶硅电池片的色差识别设备及方法

    公开(公告)号:CN117969418B

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202410380082.0

    申请日:2024-03-30

    IPC分类号: G01N21/01 G01N21/25 G01N21/27

    摘要: 本发明涉及Top‑Con单晶硅电池片的色差识别技术领域,公开了一种Top‑Con单晶硅电池片的色差识别设备及方法,包括工作台,所述工作台的底部固定安装有存放框架。本发明实现了通过数据接收模块对采集的图象数据进行接收,然后通过数据分析模块对图象进行分析,接着通过参数调整模块对参数进行调整,然后通过数据记录模块对测试数据进行记录,且通过数据分析模块根据数据库进行分析,接着通过数据备份模块对测试数据进行备用,防止数据丢失,然后通过数据更新模块对数据库未存在的数据进行更新作用,通过对数据分析模块对采集的数据进行分析,然后通过数据更新模块对分析后的最新数据对数据库进行更新,从而方便后续对电池片的生产工作。

    一种Top-Con单晶硅电池片的缺陷检测设备及方法

    公开(公告)号:CN117074428A

    公开(公告)日:2023-11-17

    申请号:CN202311344016.X

    申请日:2023-10-17

    摘要: 本发明涉及单晶硅电池片的缺陷检测技术领域,公开了一种Top‑Con单晶硅电池片的缺陷检测设备及方法,包括工作台,所述工作台的一侧固定安装有办公台。本发明实现了通过在连接上座的底部活动安装有连接下座,能够通过连接上座与连接下座方便对检测相机的安装与拆卸,然后通过信息库存储电池片的各种参数,接着通过尺寸检测模块与外观检测模块对电池片的外观以及尺寸进行检测,然后通过信息对比模块将采集的数据与信息库的信息进行对比,接着通过红外检测模块对电池片内部进行检测,接着通过自动聚焦模块对电池片的外观以及尺寸检测数据更加精准,然后通过动态检测模块在检测相机移动过程中,也能对电池片进行检测工作,从而提高了检测设备的全面性。

    一种单晶硅电池片的动力学测试装置及方法

    公开(公告)号:CN118944599A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202411004198.0

    申请日:2024-07-25

    IPC分类号: H02S50/15 G01R27/02 G01R19/00

    摘要: 本发明涉及单晶硅电池片测试技术领域,公开了一种单晶硅电池片的动力学测试装置及方法,包括环境检测箱,所述环境检测箱的一侧固定安装有光照检测箱,所述光照检测箱的表面通过铰链活动安装有光照箱门,所述光照箱门的内部贯穿安装有光照遮光玻璃。本发明实现了通过光照支撑底板使电池片进行放置,然后利用光照遮光玻璃使光照箱门在闭合时对光照检测箱对电池片进行黑暗环境照明,接着利用光照电阻传感器对电池片进行电阻检测,然后利用光照电流传感器对电池片进行电流检测,能够对单晶硅电池在黑暗环境中进行暗电流性能检测,能够在暗电流和光电流的环境进行电池片性能检测,从而提升了对电池片检测的效果。

    一种Top-Con单晶硅电池片材料制备设备及其制备方法

    公开(公告)号:CN117005019A

    公开(公告)日:2023-11-07

    申请号:CN202311284571.8

    申请日:2023-10-07

    摘要: 本发明涉及单晶硅电池片材料制备技术领域,公开了一种Top‑Con单晶硅电池片材料制备设备及其制备方法,包括熔炼支撑座,所述熔炼支撑座之间固定安装有熔炼支撑板,所述熔炼支撑板的顶部固定安装有智能温控熔炼炉。本发明实现了通过熔炼支撑板与熔炼支撑座对智能温控熔炼炉进行支撑,接着利用智能温控熔炼炉进行智能温度调节熔炼,然后利用熔炼炉体对熔炼完成的设备进行下一步处理,接着利用安装顶框架固定安装在熔炼炉体的顶部,然后利用提拉条块与连接柱带动熔炼炉体进行移动使用,接着利用隔热板对熔炼炉体的两侧进行隔热,能够对原料进行同类制作,方便在熔炼时进行稳定调节对硅片的纯度进行控制,从而提升了硅片制作的纯度和硅片的稳定性。

    一种单晶硅perc电池片安全使用的防护结构及其防护方法

    公开(公告)号:CN116504862B

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN202310776234.4

    申请日:2023-06-28

    摘要: 本发明公开了一种单晶硅perc电池片安全使用的防护结构及其防护方法,包括防护盒,所述防护盒内部的底端固定设置有接线盒,所述接线盒的顶部固定设置有硅胶垫,所述硅胶垫的顶部粘接有电池片本体,所述电池片本体的顶部粘接有钢化玻璃。本发明实现了通过在硅胶垫的顶部粘接有电池片本体,能够通过钢化玻璃提高单晶硅perc电池片的抗压性能,再通过乙烯‑醋酸乙烯共聚物、增塑剂与稳定剂组成的粘接剂将电池片本体进行粘接,提高电池片本体的柔韧性、耐热性、耐寒性、耐候性和耐化学腐蚀性,接着利用硅胶垫能够对电池片本体进行保护与散热工作,采用多重保护的方式,提高电池片本体的使用寿命。

    一种单晶硅电池片储能老化测试方法

    公开(公告)号:CN118890004A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202410938228.9

    申请日:2024-07-12

    IPC分类号: H02S50/10

    摘要: 本发明公开了一种单晶硅电池片储能老化测试方法,其测试方法包括以下步骤:S1、挑选电池片,S2、准备测试,S3、开始检测,S4、在线监测,S5、重复测试。本发明通过在测试开始前,工作人员选着合适的单晶硅电池片,然后讲电池片选为新旧两组测试组,且每一组里面包含三个电池片,接着工作人员采用清洁海绵与电池清洗剂对电池片进行逐一擦拭与烘干,并且通过检测设备检测电池片的接头与连接线是否可用,避免在测试时发生失灵的问题,通过对电池片的提前清洁与检测,避免电池片因灰尘不洁净而导致实验的停止,从而保证对电池片储能老化测试的稳定性与准确性。

    一种光伏电池片抗弯曲耐久测试装置及方法

    公开(公告)号:CN118583665A

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202411045881.9

    申请日:2024-08-01

    摘要: 本发明涉及电池抗弯测试技术领域,公开了一种光伏电池片抗弯曲耐久测试装置及方法,包括测试保护外箱,所述测试保护外箱内部的两端皆固定安装有测试安装板,所述测试安装板的两端皆固定安装有电动推杆,所述电动推杆伸缩端的两端皆固定安装有测试安装块,所述测试安装块的两端皆固定安装有加速度计。本发明实现了通过测试安装板使电动推杆在测试安装板的两端固定安装,接着利用自动化编程控制两端的电动推杆的移动端对电池片本体进行夹弯测试,然后利用加速度计与压力传感器对电池片本体夹弯的数据进行记录,能够对电池片的不同点位进行自动化控制折弯测试,对电池片的折弯角度多样化,从而提升了对电池片折弯测试的精确度。

    一种Top-Con单晶硅电池片的色差识别设备及方法

    公开(公告)号:CN117969418A

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202410380082.0

    申请日:2024-03-30

    IPC分类号: G01N21/01 G01N21/25 G01N21/27

    摘要: 本发明涉及Top‑Con单晶硅电池片的色差识别技术领域,公开了一种Top‑Con单晶硅电池片的色差识别设备及方法,包括工作台,所述工作台的底部固定安装有存放框架。本发明实现了通过数据接收模块对采集的图象数据进行接收,然后通过数据分析模块对图象进行分析,接着通过参数调整模块对参数进行调整,然后通过数据记录模块对测试数据进行记录,且通过数据分析模块根据数据库进行分析,接着通过数据备份模块对测试数据进行备用,防止数据丢失,然后通过数据更新模块对数据库未存在的数据进行更新作用,通过对数据分析模块对采集的数据进行分析,然后通过数据更新模块对分析后的最新数据对数据库进行更新,从而方便后续对电池片的生产工作。

    一种Top-Con单晶硅电池片的缺陷检测设备及方法

    公开(公告)号:CN117074428B

    公开(公告)日:2024-01-16

    申请号:CN202311344016.X

    申请日:2023-10-17

    摘要: 本发明涉及单晶硅电池片的缺陷检测技术领域,公开了一种Top‑Con单晶硅电池片的缺陷检测设备及方法,包括工作台,所述工作台的一侧固定安装有办公台。本发明实现了通过在连接上座的底部活动安装有连接下座,能够通过连接上座与连接下座方便对检测相机的安装与拆卸,然后通过信息库存储电池片的各种参数,接着通过尺寸检测模块与外观检测模块对电池片的外观以及尺寸进行检测,然后通过信息对比模块将采集的数据与信息库的信息进行对比,接着通过红外检测模块对电池片内部进行检测,接着通过自动聚焦模块对电池片的外观以及尺寸检测数据更加精准,然后通过动态检测模块在检测相机移动过程中,也能对电池片进行检测工作,从而提高了检测设备的全面性。