本申请提供一种优化磁约束带电粒子成像系统参数的方法。该方法包括：给出粒子参数：静质量、所带电荷量和动能，计算磁钢度；给出约束参数范围：视场半径、磁场范围、磁透镜厚度范围、漂移距离范围和极面半径；给出磁透镜强度、磁透镜厚度和漂移距离的微分步数及要求的精度值；计算磁透镜强度范围，磁透镜强度、磁透镜厚度及漂移距离的微分步长；设定磁透镜强度、磁透镜厚度和漂移距离的初始值及迭代步长；计算系统半传输矩阵的迹的绝对值；判断磁透镜强度的初始值或迭代后的值是否在磁透镜强度范围内，且系统半传输矩阵的迹的绝对值是否大于要求的精度值，如果是，则进行循环迭代，否则，则计算磁透镜梯度的值；输出优化后的系统参数的值。