本发明公开了一种彩膜垫料基本参数测量方法、装置及存储介质，涉及参数测量技术领域，该方法包括：根据点云数据集合生成初始二维灰度图像；其中，点云数据集合为待测彩膜垫料置于水平参考物体上表面时获得的待测彩膜垫料和参考物体的整体的点云数据集合；识别初始二维灰度图像中彩膜垫料的待补点区域，根据待补点区域确定初始二维灰度图像中的连通区域，并确定连通区域的中心点位置；基于连通区域的中心点位置对应点云数据集合对应点的第一高度值和参考物体对应点云数据集合对应点的第二高度值，确定彩膜垫料的高度。本方法可快速、精准地确定彩膜垫料基本参数，以便于相关人员确定需要浇筑的液晶量，保证浇筑液晶后生成的LCD的品质达到预期。