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公开(公告)号：CN119579493A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411451244.1
申请日：2024-10-17
Applicant: 北京兆维智能装备有限公司
Abstract: 本发明提供了一种板级TGV封装缺陷检测方法、系统、介质及电子设备，涉及通孔检测的技术领域，包括：获取待测图像和标准模板图像，并确定所述标准模板图像上的特征点；获取所述特征点位置信息，根据所述位置信息，在所述待测图像中找到目标点，对距离所述目标点第二预设范围内的所有像素点逐一搜索，直至找到与所述特征点具有相同像素值分布的特征定位核；获取所述特征定位核与所述特征点的位置偏差，结合平移法和仿射变换法，对所述待测图像中各个像素点的位置进行矫正，以得到目标图像；提取所述目标图像和所述标准模板图像对应各个像素点的像素值差异，得到第一缺陷检测结果。本发明解决了现有检测方法存在的效率与准确率较低的问题。
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公开(公告)号：CN119579490A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411424109.8
申请日：2024-10-12
Applicant: 北京兆维智能装备有限公司
Abstract: 本发明涉及面板检测技术领域，尤其涉及一种孔边缘微裂纹缺陷检测方法、系统、电子设备和存储介质，包括：获取待测液晶屏孔边缘在远心成像下的原始明场图像和原始暗场图像；将原始明场图像和原始暗场图像输入至改进的微裂纹缺陷检测模型，得到待测液晶屏孔边缘的检测结果；本发明结合改进的微裂纹缺陷检测模型，实现了对液晶屏孔边缘微裂纹的高效精准检测，不仅提升了检测速度与准确率，还降低了误检与漏检率。
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公开(公告)号：CN119509370A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411527856.4
申请日：2024-10-30
Applicant: 北京兆维智能装备有限公司
IPC: G01B11/02
Abstract: 本申请涉及一种显示屏背光源的偏移检测方法及相关设备，方法包括：获取待测显示屏的检测精度需求，并将符合检测精度需求的相机作为检测相机；利用检测相机对待测显示屏进行拍摄，得到检测图像，检测图像包含待测显示屏对应的屏幕区域和背光源区域；获取屏幕区域和背光源区域之间的夹角信息，基于夹角信息确定待测显示屏的待测背光源的偏移角度；获取屏幕区域和背光源区域之间的位置信息，基于位置信息确定待测背光源的偏移量；基于偏移角度和偏移量得到待测背光源的检测结果。解决了现有技术中人眼易受到环境的影响，使得人工目视检测显示屏背光源的过程中产生的误差较大，导致检测结果的准确性和效率均较低的问题。
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公开(公告)号：CN111439566B
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN202010332508.7
申请日：2020-04-24
Applicant: 北京兆维智能装备有限公司
Abstract: 本发明涉及一种屏幕存放装置，属于屏幕储存领域。本屏幕存放装置包括：存放台；输送装置，所述输送装置固定连接在所述存放台上；上下料装置，所述上下料装置固定连接在所述存放台上，所述上下料装置的输出端位于所述输送装置一端的竖直上方，通过所述上下料装置将屏幕移入或移出所述输送装置；存放架，所述存放架架设在所述输送装置的另一端上，通过所述输送装置将屏幕输送到所述存放架上；驱动装置，所述驱动装置固定连接在所述存放台上，所述驱动装置与所述存放架传动连接，通过所述驱动装置带动所述存放架相对所述输送装置移动。本屏幕存放装置能够与生产线相适配，非常方便的存放屏幕，同时拿取使用也非常方便。
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公开(公告)号：CN118960585A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411026931.9
申请日：2024-07-30
Applicant: 北京兆维智能装备有限公司
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明涉及一种多模式检测系统和方法。系统包括：龙门机台、白光三角模块、共聚焦模块、交互模块和工控机；其中，所述白光三角模块和所述共聚焦模块分别设置于所述龙门机台的龙门两侧；所述白光三角模块、所述共聚焦模块和所述交互模块均与所述工控机连接；交互模块，用于接收用户的高度检测指令，并将所述高度检测指令发送给所述工控机；所述工控机，用于根据所述高度检测指令控制所述白光三角模块和/或所述共聚焦模块采集所述预设区域内待测样品各个凸点的第一高度信息，并根据各个所述第一高度信息确定各个所述凸点的第一高度值。该系统能够兼顾产线对检测吞吐量和检测精度的需求。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118486631A
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202410587501.8
申请日：2024-05-13
Applicant: 北京兆维智能装备有限公司
IPC: H01L21/683
Abstract: 本发明提供了一种晶片吸附固定装置，包括底座、托盘，所述托盘设于底座上，底座上设有能够夹紧托盘的紧固组件；所述底座上设有负压接头和多个吸附阀门，每个吸附阀门的一端分别与负压接头连通；所述托盘的上表面设有晶片槽，托盘内设有吸附孔，晶片槽的底部与吸附孔连通；所述吸附孔的一端设有吸附接头，吸附接头能够通过管路连接所述吸附阀门的另一端。采用本发明，当吸附接头通过管路连接吸附阀门时，负压可通过吸附阀门吸附接头、吸附孔传递到晶片槽的底部，实现对晶片的吸附固定；托盘可设计多种不同规格并能替换，实现了兼容多种尺寸规格的晶片，降低了设备成本。
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公开(公告)号：CN118229629A
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202410254435.2
申请日：2024-03-06
Applicant: 北京兆维智能装备有限公司
Abstract: 本发明公开了一种大尺寸液晶屏边缘检测方法、系统、设备及介质，涉及人工智能、机器视觉、深度学习、图像处理、模式识别技术领域，方法包括：获取待检测的液晶屏边缘的多个第一图像，对每个第一图像进行分割，得到多个第二图像；将每个第二图像输入到预测检测区域模型中，得到每个第二图像对应的第三图像；将所有第三图像合并，得到每个第一图像对应的第四图像；对每个第四图像进行图像处理，得到每个第四图像的缺陷特征；根据缺陷特征确定缺陷。本发明能够针对液晶屏边缘区域具有复杂纹理情况下的进行缺陷检测，采用深度学习与传统算法相互结合的方法，避免了人工设计复杂的算法流程，大大降低了研发困难度，并且有着极高的鲁棒性和精度。
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公开(公告)号：CN117830401A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311765332.4
申请日：2023-12-20
Applicant: 北京兆维智能装备有限公司
Abstract: 本申请提供一种点云数据处理方法、装置、电子设备及存储介质，涉及计算机处理技术领域。方法包括：获取扫描待检测目标得到的点云数据，点云数据包括构成点云数据的三维点，以及每个三维点对应的坐标和高度值；根据每个三维点的像素值和坐标，构建待检图像；对待检图像进行预处理，得到经过预处理的待检图像；从经过预处理的待检图像中确定第一目标区域的平均高度；从待检图像中确定第二目标区域的平均高度值作为基准高度；确定平均高度与基准高度的差值作为待检测目标的实际高度。如此，可以改善现有工件高度测量方式存在测量结果不精确的问题。
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公开(公告)号：CN117197037A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202310923629.2
申请日：2023-07-26
Applicant: 北京兆维智能装备有限公司
IPC: G06T7/00 , G06V10/764 , G06V10/44 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06V10/25 , G06V10/80 , G06T5/00
Abstract: 本发明涉及一种用于AA区外弧边的缺陷检测方法及装置，针对现有技术中存在的人工作业的检测方式，费时费力，效率较低，过程繁琐，主观性较强，受人员情绪、视力好坏、环境光线、不同人眼判断标准不统一的技术问题，本发明包括：获取原始图像，对所述原始图像进行液晶玻璃的边界识别，得到液晶玻璃的边缘信息；基于所述边缘信息，对原始图像进行检测区域的划分，得到待检测图像；对所述待检测图像进行去噪，得到滤波图，将所述滤波图进行图像二值化分割，得到缺陷二值图；构建缺陷分类模型，将所述缺陷二值图输入缺陷分类模型，利用缺陷分类模型对缺陷二值图进行缺陷识别，得到分类结果。本发明用于对屏幕AA区外弧边进行缺陷检测。
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公开(公告)号：CN117115091A
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202310977501.4
申请日：2023-08-04
Applicant: 北京兆维智能装备有限公司
Abstract: 本发明公开了一种彩膜垫料基本参数测量方法、装置及存储介质，涉及参数测量技术领域，该方法包括：根据点云数据集合生成初始二维灰度图像；其中，点云数据集合为待测彩膜垫料置于水平参考物体上表面时获得的待测彩膜垫料和参考物体的整体的点云数据集合；识别初始二维灰度图像中彩膜垫料的待补点区域，根据待补点区域确定初始二维灰度图像中的连通区域，并确定连通区域的中心点位置；基于连通区域的中心点位置对应点云数据集合对应点的第一高度值和参考物体对应点云数据集合对应点的第二高度值，确定彩膜垫料的高度。本方法可快速、精准地确定彩膜垫料基本参数，以便于相关人员确定需要浇筑的液晶量，保证浇筑液晶后生成的LCD的品质达到预期。
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