本发明提供了一种存储器的处理系统及处理方法，包括：测试温箱，被配置为根据预设条件，调节测试的环境温度，以获取不同的环境温度范围；以及测试板，位于所述测试温箱内，所述测试板被配置为与电子产品的类型相适配，并搭建对应的测试环境；其中，所述测试板还被配置为对所述电子产品的待测存储器进行测试，以获取不同所述环境温度范围下的调试参数；所述测试板还被配置为选取不同所述环境温度范围下的最优调试参数，生成调试文件，并将所述调试文件写入到所述待测存储器的固件闪存块内。通过本发明提供的一种存储器的处理系统及处理方法，能够提升电子产品的开机速度。