本发明提供一种放射线探测器及定量评估其分压及自屏蔽效应的标定方法，测量各个子探测器的坪特性曲线，能够精确获取子探测器在组合探测器中由于分压造成的减益状态。通过依次累积断开探测器中个子探测器的电压，而使探测器处于不同的探测器状态，可以获得关于子探测器相互屏蔽效应参数的多元一次方程，结合已获得的探测器分压造成的减益状态参数，可精确获取相互屏蔽效应对子探测器造成的减益，从而将探测器分压造成的减益和子探测器的相互屏蔽效应造成的减益进行解耦，能够定量确定分压偏移和屏蔽效应对组合探测器性能的影响。