发明公开
- 专利标题: 一种掺镱光纤光子暗化测试装置
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申请号: CN202311310553.2申请日: 2023-10-11
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公开(公告)号: CN117288425A公开(公告)日: 2023-12-26
- 发明人: 郭洁 , 孙舒杨 , 陈永良 , 曹宇 , 陶东鑫 , 孙伟 , 王在祥 , 冯华丽 , 郝昌平 , 刘其岳 , 黄晓强 , 陈富铭 , 赵立果
- 申请人: 江苏亨通光纤科技有限公司 , 江苏亨通光电股份有限公司 , 江苏亨通光导新材料有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市吴江经济技术开发区亨通路100号; ;
- 专利权人: 江苏亨通光纤科技有限公司,江苏亨通光电股份有限公司,江苏亨通光导新材料有限公司
- 当前专利权人: 江苏亨通光纤科技有限公司,江苏亨通光电股份有限公司,江苏亨通光导新材料有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市吴江经济技术开发区亨通路100号; ;
- 代理机构: 苏州国诚专利代理有限公司
- 代理商 李小叶
- 主分类号: G01M11/00
- IPC分类号: G01M11/00 ; G01J1/42 ; G01N21/27
摘要:
本发明公开了一种掺镱光纤光子暗化测试装置,包括依序连接的红外波段信号源、隔离器、第一包层光滤除器、第一合束器、被测掺镱光纤、第二包层光滤除器、功率探测记录系统和光谱仪,第一合束器的输入端连接有第一泵浦源;红外波段信号源包括第二合束器、高反光栅、掺杂光纤和低反光栅,第二合束器的输入端连接有第二泵浦源;测试时,红外波段信号源发出的激光光束经过隔离器、第一包层光滤除器、第一合束器、被测掺镱光纤和第二包层光滤除器后进入功率探测记录系统。本发明利用红外波段信号光通过待测掺镱光纤后的功率变化直接表征出待测光纤在激光应用波段处的光暗化损耗,相较于现有技术,成本更低的同时保证测试结果的可靠性。