发明授权
- 专利标题: 硅基光电探测器及其制备方法
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申请号: CN202311813343.5申请日: 2023-12-27
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公开(公告)号: CN117476800B公开(公告)日: 2024-04-09
- 发明人: 杨荣 , 王庆 , 余明斌
- 申请人: 上海铭锟半导体有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
- 专利权人: 上海铭锟半导体有限公司
- 当前专利权人: 上海铭锟半导体有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
- 代理机构: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司
- 代理商 罗强
- 主分类号: H01L31/105
- IPC分类号: H01L31/105 ; H01L31/0232 ; H01L31/0224 ; H01L31/18
摘要:
本发明涉及半导体制造领域,提供了硅基光电探测器及制备方法,包括衬底、第一氧化硅层、外延层、第二氧化硅层、金属电极层以及金属层;第一氧化硅层沉积在衬底上表面,并开窗暴露衬底形成外延的窗口区域;外延层在窗口区域生长,并被第一氧化硅层包围,外延层可以是硅、锗或硅锗合金的一种或者叠层,或根据需要掺入碳、锡、铅等杂质;所述第二氧化硅层沉积在外延层之上;所述金属电极层暴露于第二氧化硅层表面,并与外延层和衬底连接;所述金属层沉积在衬底下表面。本发明可以有效反射未被吸收层完全吸收的入射光加以回收利用,能够增加探测器的响应度和灵敏度;通过金属层连接固定电位来控制硅层悬浮区域的电位,减少了对探测器行为的干扰。
公开/授权文献
- CN117476800A 硅基光电探测器及其制备方法 公开/授权日:2024-01-30
IPC分类: