发明公开
- 专利标题: 基于缺陷迁移技术的缺陷检测方法和系统
-
申请号: CN202311518252.9申请日: 2023-11-14
-
公开(公告)号: CN117523338A公开(公告)日: 2024-02-06
- 发明人: 赵何 , 潘正颐 , 侯大为 , 孙成成
- 申请人: 常州微亿智造科技有限公司
- 申请人地址: 江苏省常州市钟楼经济开发区玉龙南路280号常州大数据产业园4号楼2楼
- 专利权人: 常州微亿智造科技有限公司
- 当前专利权人: 常州微亿智造科技有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省常州市钟楼经济开发区玉龙南路280号常州大数据产业园4号楼2楼
- 代理机构: 常州佰业腾飞专利代理事务所
- 代理商 吕小丽
- 主分类号: G06V10/774
- IPC分类号: G06V10/774 ; G06V10/44 ; G06V10/46 ; G06V10/74 ; G06V10/762 ; G06V10/764 ; G06V10/82 ; G06N3/0464
摘要:
本发明提供了一种基于缺陷迁移技术的缺陷检测方法和系统,该方法包括以下步骤:获取目标设备的第一样本图像,并获取相关设备的历史样本图像集;分别对历史样本图像集进行缺陷特征提取以获取相应的第一缺陷特征图像集;对第一样本图像进行显著性特征提取以获取相应的第二缺陷特征图像;分别计算第一缺陷特征图像集与第二缺陷特征图像的相似度;根据各相似度提取第三缺陷特征图像集;将第三缺陷特征图像集中的缺陷特征分别迁移至目标设备的良品图像,获取第四缺陷特征图像集;根据第四缺陷特征图像集和第一样本图像训练目标检测模型;根据目标检测模型进行缺陷检测。由此,大大增强了训练出的目标检测模型对目标设备的适应能力和泛化能力。