本发明属于超导材料测量技术领域，涉及超导线铜比测量方法、装置、计算机设备和存储介质。本发明提供了一种基于电阻的分散稳定型Nb3Sn超导线铜比的测量方法，获取分散稳定型Nb3Sn超导线的电阻、稳定基体无氧铜的电阻、无氧铜的电阻率、超导区的电阻、超导区的电阻率、测量长度和分散稳定型Nb3Sn超导线的截面积，确定分散稳定型Nb3Sn超导线的铜比。本发明解决了现有分散稳定型Nb3Sn超导线铜比测量技术中，存在损坏样品、测试效率低和化学试剂污染等问题。