一种超导线铜超比测量方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117554561A

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202311474855.3

    申请日:2023-11-07

    IPC分类号: G01N33/00

    摘要: 本申请公开了一种超导线铜超比测量方法,包括:建立超导线的铜超比和截面积及线密度的数学模型;截取超导线样品;测量超导线样品的截面积;测量超导线样品的线密度;根据数学模型、截面积和线密度确定超导线样品的铜超比。本申请的方法能够替代铜溶解法进行超导线铜超比测量,单个样品测量时间由40min缩短至3min,大幅提高了测量效率;且摆脱了铜超比测量对化学试剂HNO3的依赖,避免环境污染与测量员身体上的伤害。

    基于电阻的铜比测量方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN117554427A

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202311478451.1

    申请日:2023-11-07

    IPC分类号: G01N27/04

    摘要: 本发明属于超导材料测量技术领域,涉及基于电阻的铜比测量方法、装置、计算机设备和存储介质。本发明提供了一种基于电阻的铜比测量方法,用于内稳定型青铜Nb3Sn超导线铜比的测量,其包括:获取内稳定型青铜Nb3Sn超导线的电阻、无氧铜的电阻、无氧铜的电阻率、超导体的电阻、超导体的电阻率、测量长度和内稳定型青铜Nb3Sn超导线的截面积,确定内稳定型青铜Nb3Sn超导线的铜比。本发明解决了现有内稳定型Nb3Sn超导线铜比测量技术中,测试效率低和依赖熟练的样品抛光技术等问题。

    一种Bi-2212超导线银超比的银基电阻测量方法

    公开(公告)号:CN117630112A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202311478159.X

    申请日:2023-11-07

    IPC分类号: G01N27/04

    摘要: 本发明属于超导线银超比测量技术领域,公开了一种Bi‑2212超导线银超比的银基电阻测量方法。Bi‑2212超导线的结构中,稳定体是纯银及银合金,统称为银基,超导体为Bi‑2212粉末,稳定体银基的电阻很小,而超导体Bi‑2212的前驱粉末是绝缘体。利用Bi‑2212前驱粉末的绝缘特性,测量银基的电阻,计算出银基的截面积,从而计算出Bi‑2212超导线的银超比β。大量测试比对实验表明:本发明的方法与图像处理法测试比对误差在4%以内,满足使用需求。本发明的方法与图像处理法相比,效率提升90%以上。

    一种Ta增强型青铜Nb3Sn超导线基-超比的电阻测量方法

    公开(公告)号:CN117554431A

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202311478660.6

    申请日:2023-11-07

    IPC分类号: G01N27/04

    摘要: 本发明属于超导线基‑超比测量技术领域技术领域,公开了一种Ta增强型青铜Nb3Sn超导线基‑超比的电阻测量方法,Ta增强型青铜Nb3Sn属于内外稳定的新型超导线,内稳定体是Ta,外稳定体是无氧铜,中间的超导区是青铜加Nb。根据并联原理,首先计算出外稳定体无氧铜与超导区加内稳定体Ta的体积比β2,再计算出内稳定体Ta与超导区的体积比β1。并结合体积比与样品截面积关系推算出Ta增强型青铜Nb3Sn超导线材的基‑超比β。大量测试比对实验表明:本发明的方法与纸张称重法测试比对误差在4%以内,满足使用需求。本发明的方法与纸张称重法相比,效率提升90%以上。

    Nb3Sn铜比测量方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN117554423A

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202311474670.2

    申请日:2023-11-07

    IPC分类号: G01N27/04

    摘要: 本发明属于超导材料测量技术领域,涉及Nb3Sn铜比测量方法、装置、计算机设备和存储介质。本发明提供了一种基于电阻的外稳定型Nb3Sn超导线铜比的测量方法,获取外稳定型Nb3Sn超导线的电阻、外稳定基体无氧铜的电阻、无氧铜的电阻率、超导区的电阻、超导区的电阻率、测量长度和外稳定型Nb3Sn超导线的截面积,确定外稳定型Nb3Sn超导线的铜比。本发明解决了现有外稳定型Nb3Sn超导线铜比测量技术中,存在损坏样品、测试效率低和化学试剂污染等问题。

    一种WIC镶嵌超导线铜超比测量方法

    公开(公告)号:CN117554560A

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202311474693.3

    申请日:2023-11-07

    IPC分类号: G01N33/00

    摘要: 本申请公开了一种WIC镶嵌超导线铜超比测量方法,包括:获取WIC镶嵌超导线的镀锡前样品和镀锡后样品;将镀锡前样品中的镶嵌圆线和镶嵌铜槽线剥离;测量镶嵌圆线的直径,确定镶嵌圆线的截面积;测量镶嵌圆线的长度和质量,根据镶嵌圆线的截面积、长度和质量确定镶嵌圆线的铜超比;测量镶嵌铜槽线的长度和质量;测量镀锡后样品的长度和质量;根据镶嵌圆线的铜超比、镶嵌铜槽线的长度和质量以及镀锡后样品的长度和质量确定镀锡后样品的铜超比。采用本申请的方法可以代替铜溶解法,进而大幅度提高测量效率,摆脱了铜超比测量对化学试剂的依赖,避免环境污染与测量员身体上的伤害。

    超导线铜比测量方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN117554428A

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202311478555.2

    申请日:2023-11-07

    IPC分类号: G01N27/04

    摘要: 本发明属于超导材料测量技术领域,涉及超导线铜比测量方法、装置、计算机设备和存储介质。本发明提供了一种基于电阻的分散稳定型Nb3Sn超导线铜比的测量方法,获取分散稳定型Nb3Sn超导线的电阻、稳定基体无氧铜的电阻、无氧铜的电阻率、超导区的电阻、超导区的电阻率、测量长度和分散稳定型Nb3Sn超导线的截面积,确定分散稳定型Nb3Sn超导线的铜比。本发明解决了现有分散稳定型Nb3Sn超导线铜比测量技术中,存在损坏样品、测试效率低和化学试剂污染等问题。