Invention Publication
- Patent Title: 用于测量电路特性参数的RFID标签和方法、电子系统
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Application No.: CN202311527496.3Application Date: 2023-11-16
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Publication No.: CN117607656APublication Date: 2024-02-27
- Inventor: 杜鹃 , 刘俊杰 , 魏炳义 , 赵军伟 , 王文赫 , 禹丹 , 张贺丰 , 陈建卫 , 季叶庆
- Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- Assignee: 北京智芯微电子科技有限公司,国家电网有限公司,北京智芯半导体科技有限公司
- Current Assignee: 北京智芯微电子科技有限公司,国家电网有限公司,北京智芯半导体科技有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- Agency: 北京正砚知识产权代理有限公司
- Agent 高敏
- Main IPC: G01R31/28
- IPC: G01R31/28 ; G06K19/077 ; G06K17/00

Abstract:
本公开涉及RFID标签技术领域,具体涉及一种用于测量电路特性参数的RFID标签和方法、电子产品以及电子系统。所述RFID标签包括:测试点,所述测试点裸露设置在所述RFID标签的外侧,用于连接待测电路;一个或多个参数测量电路,连接到所述测试点,用于产生与所述待测电路的指定特性参数相对应的测量信号;控制器,连接到所述参数测量电路,用于根据所述测量信号得到所述指定特性参数的测量结果;天线,连接到所述控制器,用于将所述测量结果发送到读写设备。本公开能够以无线方式完成目标电路特性参数的感知和测量,而无需拆开产品箱体露出电路板,也无需专业设备,避免了对产品的破坏性,具有效率高、测量方便且经济的优点。
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