发明公开
- 专利标题: 粗糙度在位测量装置、设备和方法
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申请号: CN202311666049.6申请日: 2023-12-06
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公开(公告)号: CN117655812A公开(公告)日: 2024-03-08
- 发明人: 易力力 , 王时龙 , 王四宝 , 杨波 , 康玲 , 董建鹏 , 肖雨亮 , 高方锐
- 申请人: 重庆大学
- 申请人地址: 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
- 专利权人: 重庆大学
- 当前专利权人: 重庆大学
- 当前专利权人地址: 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
- 代理机构: 重庆航图知识产权代理事务所
- 代理商 胡小龙
- 主分类号: B23Q17/20
- IPC分类号: B23Q17/20 ; B23Q17/09 ; G01B21/30
摘要:
本发明公开了一种粗糙度在位测量装置,包括粗糙度测量仪、安装组件和连接组件;安装组件包括转动盘和安装座,安装座与转动盘之间固定连接;连接组件包括连接座与用于与主轴连接的连接盘,连接盘与连接座之间固定连接;粗糙度测量仪包括测量座,测量座上安装有测量臂,测量臂上设有测量头,测量头的轴线与测量臂的轴线垂直;转动盘转动配合安装在连接座上,且转动盘可相对于连接座绕第一转轴转动;测量座固定安装在安装座上,且测量臂的轴线与第一转轴垂直相交,测量头的轴线与第一转轴平行;转动盘与连接座之间设有转动位置调节机构,转动位置调节机构用于固定转动盘相对于连接座转动的位置。本发明还公开了一种粗糙度在位测量设备和方法。