- 专利标题: 一种基于多磁传感器联合进行平面校正的方法和系统
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申请号: CN202410145303.6申请日: 2024-02-02
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公开(公告)号: CN117686952A公开(公告)日: 2024-03-12
- 发明人: 李健 , 陈雪梅 , 张宝庭 , 杨东清 , 刘晓慧 , 孙静
- 申请人: 北京理工大学前沿技术研究院
- 申请人地址: 山东省济南市高新区经十路7000号汉峪金融商务中心五区1号楼601
- 专利权人: 北京理工大学前沿技术研究院
- 当前专利权人: 北京理工大学前沿技术研究院
- 当前专利权人地址: 山东省济南市高新区经十路7000号汉峪金融商务中心五区1号楼601
- 代理机构: 济南诚智商标专利事务所有限公司
- 代理商 刘丙松
- 主分类号: G01R33/00
- IPC分类号: G01R33/00
摘要:
本发明提出了一种基于多磁传感器联合进行平面校正的方法和系统,属于磁传感器校正技术领域,该方法包括:搭建多磁传感器硬件环境;采集硬件环境中各磁传感器在各个坐标轴上的输出数据,输出数据确定水平方向各坐标轴的极大值和极小值;根据极大值和极小值计算各磁传感器在相应坐标轴方向的比例因子和零偏;以及根据比例因子和可靠度因子计算磁传感器的权重系数;根据比例因子、零偏和权重系数,对所有磁传感器采集到的数据进行误差补偿,将补偿后的数据进行融合作为多磁传感器系统校正后的结果。基于该方法,还提出了一种基于多磁传感器联合进行平面校正的系统。本发明能够实现系统低成本、高精度及可靠性强的要求,增加了系统的鲁棒性。
公开/授权文献
- CN117686952B 一种基于多磁传感器联合进行平面校正的方法和系统 公开/授权日:2024-05-03