Invention Publication
- Patent Title: 一种JFET区具有阻挡层的MOSFET及其制备方法
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Application No.: CN202311870666.8Application Date: 2023-12-29
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Publication No.: CN117690965APublication Date: 2024-03-12
- Inventor: 韩超 , 袁洋洋 , 贾仁需
- Applicant: 西安电子科技大学芜湖研究院 , 西安电子科技大学
- Applicant Address: 安徽省芜湖市弋江区高新技术产业开发区服务外包产业园7号楼;
- Assignee: 西安电子科技大学芜湖研究院,西安电子科技大学
- Current Assignee: 西安电子科技大学芜湖研究院,西安电子科技大学
- Current Assignee Address: 安徽省芜湖市弋江区高新技术产业开发区服务外包产业园7号楼;
- Agency: 西安嘉思特知识产权代理事务所
- Agent 辛菲
- Main IPC: H01L29/78
- IPC: H01L29/78 ; H01L29/06 ; H01L29/36 ; H01L21/336

Abstract:
本发明涉及一种JFET区具有阻挡层的MOSFET及其制备方法,MOSFET包括:衬底层、漂移层、P型基区、P+体区、N+源区、沟道区、侧翼阻挡层和中间阻挡层,其中,侧翼阻挡层位于中间阻挡层的两侧,由漂移层的上表面延伸至漂移层的内部,且侧翼阻挡层的一侧与沟道区接触;侧翼阻挡层的厚度小于中间阻挡层的厚度,掺杂浓度大于中间阻挡层的掺杂浓度。本发明的器件进入短路状态时,PN结产生的耗尽层主要向中间阻挡层的位置扩展,中间阻挡层可以减缓器件的温度积累,提升器件的短路耐受时间,侧翼阻挡层使得器件能够保持较低的导通电阻,本发明提供的MOSFET同时具有良好的导通特性和短路耐受能力。
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IPC分类: