发明公开
- 专利标题: 放射性金属样品的结构测定方法
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申请号: CN202311816478.7申请日: 2023-12-26
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公开(公告)号: CN117740841A公开(公告)日: 2024-03-22
- 发明人: 陈东风 , 闫士博 , 李天富 , 孙凯 , 王子军 , 王成龙 , 陈忠 , 赵永鹏 , 刘荣灯 , 贺新福
- 申请人: 中国原子能科学研究院
- 申请人地址: 北京市房山区新镇三强路1号院
- 专利权人: 中国原子能科学研究院
- 当前专利权人: 中国原子能科学研究院
- 当前专利权人地址: 北京市房山区新镇三强路1号院
- 代理机构: 北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司
- 代理商 路东爽
- 主分类号: G01N23/202
- IPC分类号: G01N23/202 ; G01N23/20008 ; G01N23/20025
摘要:
本发明的实施例涉及利用中子进行材料结构测定的技术领域,具体涉及一种放射性金属样品的结构测定方法,该方法包括:将放射性金属样品放置于屏蔽容器内;将屏蔽容器转移至中子导管出口与小角中子散射探测器之间;控制中子束照射屏蔽容器内的放射性金属样品,并对放射性金属样品进行小角中子散射测试,得到放射性金属样品的二维散射数据;根据二维散射数据,确定放射性金属样品的纳米结构。本实施例提供的测定方法简化了测试流程,降低了测试的难度,提高了测试效率。相比于传统的通过电子显微镜进行局部分析的方法,本发明的实施例中的小角中子散射测试的取样体积更大,提供的纳米结构信息更全面,能够得到更为准确、全面的测定结果。