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公开(公告)号：CN105445780B
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201510760939.2
申请日：2015-11-10
申请人： 中国原子能科学研究院
IPC分类号： G01T3/06
摘要： 本发明涉及一种中子单色器高次谐波的测量装置及方法。所述测量装置包括反应堆，中子传输孔道，中子单色器，飞行时间装置，偏转单色器，旋转台；通过使用偏转单色器，测量偏转束的初级及高次谐波中子波长、波长展宽及成分百分比，基于偏转单色器并辅以适当的数据处理，在偏离出射束方向获得待测中子单色器的高次谐波波长、波长展宽及成分百分比的准确值，克服了出射束方向空间狭小安放不下TOF装置的问题及波长展宽包含TOF装置的仪器本征误差的问题。
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公开(公告)号：CN104216000B
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：CN201410443111.X
申请日：2014-09-02
申请人： 中国原子能科学研究院
IPC分类号： G01T7/00
摘要： 本发明公开了一种用于中子Soller准直器发散角测试方法，包括如下步骤：选取高斯函数用来描述中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数，将中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数进行数学积分形成摇动曲线表达式；然后实验测量得到中子通过待测中子Soller准直器、参考中子Soller准直器后中子强度随摇动角度变化的摇动曲线实验数据；随后利用摇动曲线表达式对摇动曲线实验数据进行数据拟合得到摇动曲线标准误差；计算得到待测中子Soller准直器的发散角。本发明无需限制中子源的发散角范围，测试过程中参考准直器发散角可以任选，相对于6个待定参数的5次多项式，并且可以在一定误差范围内方便估算待测准直器发散角。
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公开(公告)号：CN105954306A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610258329.7
申请日：2016-04-22
申请人： 中国原子能科学研究院
IPC分类号： G01N23/20
CPC分类号： G01N23/20033 , G01N2223/056
摘要： 本发明涉及一种用于液体X射线衍射测量的变温样品台装置，所述装置包括：密封罩、X射线窗口、冷媒介质通道、样品承载台和样品台底座；所述密封罩紧扣在样品台底座上，所述X射线窗口有两个，分别为入射窗口和衍射窗口，上述两个窗口位于密封罩上并相对于密封罩顶部对称；所述冷媒介质通道焊接在样品承载台底部，所述样品台底座中间具有一个凹槽，所述样品承载台和冷媒介质通道放置在所述凹槽内。本发明针对溶液样品的X射线衍射变温测量，提供了一套方便实用的样品测量安放装置和快速准确的变温装置，可满足溶液样品X射线衍射变温测量的基本需求，极大扩展目前X射线衍射技术研究应用的范围。
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公开(公告)号：CN105445780A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201510760939.2
申请日：2015-11-10
申请人： 中国原子能科学研究院
IPC分类号： G01T3/06
CPC分类号： G01T3/06
摘要： 本发明涉及一种中子单色器高次谐波的测量装置及方法。所述测量装置包括反应堆，中子传输孔道，中子单色器，飞行时间装置，偏转单色器，旋转台；通过使用偏转单色器，测量偏转束的初级及高次谐波中子波长、波长展宽及成分百分比，基于偏转单色器并辅以适当的数据处理，在偏离出射束方向获得待测中子单色器的高次谐波波长、波长展宽及成分百分比的准确值，克服了出射束方向空间狭小安放不下TOF装置的问题及波长展宽包含TOF装置的仪器本征误差的问题。
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公开(公告)号：CN104216000A
公开(公告)日：2014-12-17
申请号：CN201410443111.X
申请日：2014-09-02
申请人： 中国原子能科学研究院
IPC分类号： G01T7/00
摘要： 本发明公开了一种用于中子Soller准直器发散角测试方法，包括如下步骤：选取高斯函数用来描述中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数，将中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数进行数学积分形成摇动曲线表达式；然后实验测量得到中子通过待测中子Soller准直器、参考中子Soller准直器后中子强度随摇动角度变化的摇动曲线实验数据；随后利用摇动曲线表达式对摇动曲线实验数据进行数据拟合得到摇动曲线标准误差；计算得到待测中子Soller准直器的发散角。本发明无需限制中子源的发散角范围，测试过程中参考准直器发散角可以任选，相对于6个待定参数的5次多项式，并且可以在一定误差范围内方便估算待测准直器发散角。
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公开(公告)号：CN102253405B
公开(公告)日：2014-01-08
申请号：CN201110179496.X
申请日：2011-06-28
申请人： 中国原子能科学研究院
发明人： 高建波 , 李峻宏 , 刘晓龙 , 李际周 , 陈东风 , 刘蕴韬 , 王洪立 , 孙凯 , 肖红文 , 韩松柏 , 李眉娟 , 张莉 , 吴展华 , 李天富 , 焦学胜 , 梁峰 , 杨浩智 , 王子军 , 胡瑞
摘要： 本发明属于中子散射技术，具体涉及一种多轴中子单色器姿态调整装置。该调整装置包括机械台体以及通过电缆与机械台体相连接的控制系统，其中，所述的机械台体包括设置在底盘上的旋转台，旋转台上设有平移调节器，在平移调节器上方设有倾斜调节器，倾斜调节器上设置单色器转位转台，机械台体的各运动机构带动单色器进行多自由度的位置组合调节；所述的控制系统包括设有控制软件的工控计算机以及通过驱动器对步进电机实现控制的电机控制单元。本发明集光机电和计算机控制技术为一体，可以对中子单色器进行五自由度的运动调节。
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公开(公告)号：CN102269520A
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN201110179475.8
申请日：2011-06-28
申请人： 中国原子能科学研究院
发明人： 高建波 , 李峻宏 , 陈东风 , 刘蕴韬 , 王洪立 , 孙凯 , 肖红文 , 韩松柏 , 李眉娟 , 张莉 , 吴展华 , 李天富 , 焦学胜 , 梁峰 , 杨浩智 , 王子军 , 胡瑞
摘要： 本发明涉及中子衍射样品原位实验技术，具体涉及一种用于中子衍射样品原位实验的镜面高温炉装置。其结构包括上、下两个椭球反射保温装置，椭球反射保温装置中设有椭球镜面，其中，所述的上、下两个椭球反射保温装置之间通过若干根支撑杆连接，用于放置样品的坩埚通过水平支架设置在若干根支撑杆所围成的空间中，坩埚设有加热装置。本发明所提供的镜面高温炉装置的中间部分采用支撑杆支撑连接，保证了中子束流进入和穿出样品的路径通透，减少了中子束流的吸收衰减。
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公开(公告)号：CN110954569B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN201911322890.7
申请日：2019-12-20
申请人： 中国原子能科学研究院
IPC分类号： G01N23/20008 , G01N23/20025 , G01N23/202
摘要： 本发明实施例提供了一种用于散射实验的换样系统(100)，包括：样品存储装置(10)，所述样品存储装置包括样品存储位(11)，所述样品存储位用于存储装有样品的器皿(101)；移动装置(20)，所述样品存储装置设置于所述移动装置上，所述移动装置带动所述样品存储装置运动使所述样品存储位上的样品对准所述实验中入射的粒子束。本发明实施例的换样系统，可实现自动换样，有助于提高实验效率。
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公开(公告)号：CN117740841A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202311816478.7
申请日：2023-12-26
申请人： 中国原子能科学研究院
IPC分类号： G01N23/202 , G01N23/20008 , G01N23/20025
摘要： 本发明的实施例涉及利用中子进行材料结构测定的技术领域，具体涉及一种放射性金属样品的结构测定方法，该方法包括：将放射性金属样品放置于屏蔽容器内；将屏蔽容器转移至中子导管出口与小角中子散射探测器之间；控制中子束照射屏蔽容器内的放射性金属样品，并对放射性金属样品进行小角中子散射测试，得到放射性金属样品的二维散射数据；根据二维散射数据，确定放射性金属样品的纳米结构。本实施例提供的测定方法简化了测试流程，降低了测试的难度，提高了测试效率。相比于传统的通过电子显微镜进行局部分析的方法，本发明的实施例中的小角中子散射测试的取样体积更大，提供的纳米结构信息更全面，能够得到更为准确、全面的测定结果。
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公开(公告)号：CN105388169B
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201510760920.8
申请日：2015-11-10
申请人： 中国原子能科学研究院
IPC分类号： G01N23/02
摘要： 本发明涉及中子束过滤器过滤性能测量装置及方法。本发明的一种方案中，所述测量装置包括反应堆，中子传输孔道，中子单色器，飞行时间装置，中子束过滤器。另一种方案中，进一步包括偏转单色器，旋转台。飞行时间方法非常适用于中子能量/波长分布的测量与分析，通过飞行时间谱测量可同时获得并区分初级中子λ及高次谐波中子λ/2、λ/3……λ/n的积分强度，非常快速和直观，并极大地减小了测量误差，尤其是出射束方向飞行时间法测量误差可以忽略。
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