Invention Publication
- Patent Title: 一种基于双点测磁共振谱拟合的量子测量方法
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Application No.: CN202311732698.1Application Date: 2023-12-15
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Publication No.: CN117741529APublication Date: 2024-03-22
- Inventor: 黄天富 , 吴志武 , 林彤尧 , 李小飞 , 聂琪 , 胡浩亮 , 张颖 , 王春光 , 詹文 , 黄汉斌 , 涂彦昭 , 周志森 , 伍翔 , 曹舒 , 郭银婷 , 王文静 , 陈子琳 , 陈适 , 童承鑫 , 林雨欣
- Applicant: 国网福建省电力有限公司营销服务中心 , 国网福建省电力有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司
- Applicant Address: 福建省福州市晋安区茶园街道沁园支路9号; ;
- Assignee: 国网福建省电力有限公司营销服务中心,国网福建省电力有限公司,中国电力科学研究院有限公司
- Current Assignee: 国网福建省电力有限公司营销服务中心,国网福建省电力有限公司,中国电力科学研究院有限公司
- Current Assignee Address: 福建省福州市晋安区茶园街道沁园支路9号; ;
- Agency: 福州科扬专利事务所
- Agent 林朝熙
- Main IPC: G01R33/24
- IPC: G01R33/24

Abstract:
本发明涉及电学量子传感技术领域,具体公开了一种基于双点测磁共振谱拟合的量子测量方法,根据系统测量ODMR谱线的分布特性和待测场的范围,完成范围内的扫频,获得离散ODMR谱线中部分点信息,再结合光的强度和分布函数分析,实现快速分布函数波形反演,获得中心频率点,进而获得能表征磁场强度的关键参量,实现量子测量。
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