一种基于双点测磁共振谱拟合的量子测量方法
Abstract:
本发明涉及电学量子传感技术领域,具体公开了一种基于双点测磁共振谱拟合的量子测量方法,根据系统测量ODMR谱线的分布特性和待测场的范围,完成范围内的扫频,获得离散ODMR谱线中部分点信息,再结合光的强度和分布函数分析,实现快速分布函数波形反演,获得中心频率点,进而获得能表征磁场强度的关键参量,实现量子测量。
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