发明授权
- 专利标题: 一种溶体碳化硅晶片清洗装置及其方法
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申请号: CN202410195275.9申请日: 2024-02-22
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公开(公告)号: CN117766440B公开(公告)日: 2024-04-23
- 发明人: 潘永志 , 郑红军 , 张庆云 , 陆敏
- 申请人: 常州臻晶半导体有限公司
- 申请人地址: 江苏省常州市武进国家高新技术产业开发区武宜南路377号19号厂房一层东
- 专利权人: 常州臻晶半导体有限公司
- 当前专利权人: 常州臻晶半导体有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省常州市武进国家高新技术产业开发区武宜南路377号19号厂房一层东
- 代理机构: 常州市科佑新创专利代理有限公司
- 代理商 窦超
- 主分类号: H01L21/67
- IPC分类号: H01L21/67 ; H01L21/673 ; B08B13/00 ; B08B3/02
摘要:
本发明涉及硅晶片清洗技术领域,具体涉及一种溶体碳化硅晶片清洗装置及其方法。本发明提供了一种溶体碳化硅晶片清洗装置,包括:晶片盒、传动柱和两缓冲限位件,所述晶片盒内部中空,晶片适于插入所述晶片盒内;所述传动柱转动设置在所述晶片盒的内底部,所述传动柱适于驱动晶片周向转动;所述缓冲限位件滑动设置在所述晶片盒内,两缓冲限位件相对设置,且两缓冲限位件之间的间距小于晶片的厚度;其中,晶片竖直状插入晶片盒内时,两缓冲限位件适于从两侧与晶片抵接,以减缓晶片的向下移动速度;晶片底壁与传动柱抵接时,两缓冲限位件适于与晶片的上部外壁抵接。
公开/授权文献
- CN117766440A 一种溶体碳化硅晶片清洗装置及其方法 公开/授权日:2024-03-26
IPC分类: