发明授权
- 专利标题: 箔条云测量场景下的定标对准误差修正方法
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申请号: CN202311620151.2申请日: 2023-11-30
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公开(公告)号: CN117784042B公开(公告)日: 2024-06-21
- 发明人: 吴迪龙 , 李丹阳 , 左炎春 , 王闻岩 , 黄润 , 吕冰 , 刘伟 , 郭立新 , 余乐
- 申请人: 西安电子科技大学
- 申请人地址: 陕西省西安市雁塔区太白南路2号
- 专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市雁塔区太白南路2号
- 代理机构: 西安弘理专利事务所
- 代理商 刘娜
- 主分类号: G01S7/40
- IPC分类号: G01S7/40 ; G06F18/2433 ; G06F18/213
摘要:
本发明公开了一种箔条云测量场景下的定标对准误差修正方法,1、根据箔条云类型确定测量频率和仪器;2、搭建测量系统;3、初步对准,分析计算定标误差;4、移动天线,交叉十字扫描测量定标体,得到测量数据;5、获取理论标准数据;6、对标准结果与实验结果进行特征检测;7、对所有可能点中的离群异常值进行筛除;8、计算置信点集内所有点的最小外切圆,得到最终对准位置(x0,y0,z0);9、根据对准位置(x0,y0,z0),定义定标体对准误差因子β并计算;10、结果分析。本发明通过SBR‑SPCC‑LOF混合方法,通过让天线在非对准位置对进行十字扫描,实现了基于电磁学的定标体对准位置寻找,解决了当前光学对准手段在箔条云测量场景下的不适用性问题。
公开/授权文献
- CN117784042A 箔条云测量场景下的定标对准误差修正方法 公开/授权日:2024-03-29