一种微型发光器件阵列老化测试系统及方法，涉及发光器件检测。包括老化装置和测试装置；微型发光器件阵列电极插入样品夹具插座与样品夹具表面紧密相连，从焊尾式插座引出线与老化恒流源相连，每个温控载物台依面积大小放若干样品夹具，采集待测样品高光谱图像数据；在当前温度应力下开始老化实验，经过一定的老化时间对每个微型发光器件阵列进行在线测试，至设定的时间结束，停止该应力下试验；调整温度应力，重复前述老化步骤；采集老化高光谱图像数据；将微型芯片分组取平均光谱；老化过程对不同老化阶段测得的每组芯片平均光谱数据拟合，计算各组芯片指定结温下寿命以及微型阵列中所有芯片平均寿命。保证样品一致性，减少统计偏差。