发明公开
- 专利标题: 一种微通道板型光电倍增管寿命测试装置及方法
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申请号: CN202410036968.3申请日: 2024-01-10
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公开(公告)号: CN117970420A公开(公告)日: 2024-05-03
- 发明人: 李奎念 , 陈萍 , 韦永林 , 刘虎林 , 赛小锋 , 田进寿 , 贺峦轩 , 陈日光 , 魏佳男 , 缑永胜 , 杨阳
- 申请人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 申请人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 代理机构: 西安智邦专利商标代理有限公司
- 代理商 杨引雪
- 主分类号: G01T7/00
- IPC分类号: G01T7/00 ; G01R31/00
摘要:
本发明涉及光电倍增管测试装置及方法,具体涉及一种微通道板型光电倍增管寿命测试装置及方法,解决了现有微通道板型光电倍增管寿命测试装置无法实时评估自身暗发射对阳极累积输出的影响,也无法评估暗发射幅度和暗发射计数随阳极累积输出的变化的技术问题。本发明在暗箱环境下,采用脉冲信号发生器、光源、漫透射光学部件、功分器、高压源、鉴别器、电荷数字转换器、延时电缆、计算机及采集软件等构建微通道板型光电倍增管寿命测试装置,可以同时记录光响应信号和暗发射信号,从而实时评估微通道板型光电倍增管自身暗发射对阳极累积输出的影响,以及暗发射幅度和暗发射计数随阳极累积输出的变化。