一种微通道板型光电倍增管寿命测试装置及方法

    公开(公告)号:CN117970420A

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202410036968.3

    申请日:2024-01-10

    IPC分类号: G01T7/00 G01R31/00

    摘要: 本发明涉及光电倍增管测试装置及方法,具体涉及一种微通道板型光电倍增管寿命测试装置及方法,解决了现有微通道板型光电倍增管寿命测试装置无法实时评估自身暗发射对阳极累积输出的影响,也无法评估暗发射幅度和暗发射计数随阳极累积输出的变化的技术问题。本发明在暗箱环境下,采用脉冲信号发生器、光源、漫透射光学部件、功分器、高压源、鉴别器、电荷数字转换器、延时电缆、计算机及采集软件等构建微通道板型光电倍增管寿命测试装置,可以同时记录光响应信号和暗发射信号,从而实时评估微通道板型光电倍增管自身暗发射对阳极累积输出的影响,以及暗发射幅度和暗发射计数随阳极累积输出的变化。

    一种热铟封封接装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103123886B

    公开(公告)日:2015-05-27

    申请号:CN201210563583.X

    申请日:2012-12-21

    IPC分类号: H01J9/26

    摘要: 本发明涉及一种热铟封封接装置,包括铟封室,铟封室内的上方设置有上封接件放置装置,下方设置有载物平台,上封接件放置装置用于放置上封接件,载物平台用于放置下封接件,还包括下封接件的升降调节组件及磁力转动部件,通过升降调节组件和磁力转动部件使上封接件的封接面与下封接件的铟封槽完全接触,在一定程度上破坏了铟锡合金表面的氧化层,克服了铟表面氧化、不平整及气泡引起的封接漏气,提高了成品率。

    一种热铟封封接装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103123886A

    公开(公告)日:2013-05-29

    申请号:CN201210563583.X

    申请日:2012-12-21

    IPC分类号: H01J9/26

    摘要: 本发明涉及一种热铟封封接装置,包括铟封室,铟封室内的上方设置有上封接件放置装置,下方设置有载物平台,上封接件放置装置用于放置上封接件,载物平台用于放置下封接件,还包括下封接件的升降调节组件及磁力转动部件,通过升降调节组件和磁力转动部件使上封接件的封接面与下封接件的铟封槽完全接触,在一定程度上破坏了铟锡合金表面的氧化层,克服了铟表面氧化、不平整及气泡引起的封接漏气,提高了成品率。

    选通聚焦型光电倍增管
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108257844A

    公开(公告)日:2018-07-06

    申请号:CN201810107146.4

    申请日:2018-02-02

    IPC分类号: H01J43/06 H01J43/28

    摘要: 本发明属于光电探测器件技术领域,具体涉及一种选通聚焦型光电倍增管。其结构包括真空容器,真空容器的一端设置输入窗,输入窗的内表面设置阴极,真空容器的另一端设置阳极;所述阴极与阳极之间依次设置有选通电极、聚焦电极和电子倍增器。本发明解决了现有的光电探测器件有效探测面积受限的技术问题。本发明为一种既具备选通功能又具备电子聚焦功能的光电倍增管。放大倍率聚焦功能使得大面积光电阴极所发射电子可以入射至小尺寸电子倍增器电子收集面,从而提升光电倍增管的探测面积。

    一种时间分辨光子计数成像系统及方法

    公开(公告)号:CN102307046B

    公开(公告)日:2015-01-07

    申请号:CN201110152839.3

    申请日:2011-06-09

    IPC分类号: H03K21/00

    摘要: 本发明涉及一种时间分辨光子计数成像系统及方法,包括光学系统、探测器、采集卡和计算机,成像目标位于光学系统的输入端,探测器位于光学系统的输出端,探测器与采集卡相连,成像目标经过光学系统成像到探测器的输入面,采集卡包括光子到达定时信号产生电路、脉冲峰值采集电路、开始信号产生电路、恒温晶振时钟电路、可编程逻辑器件、数字信号处理器、时间数字转换器芯片和通信接口电路,本发明解决了现有的光子计数方法中缺少具有时间分辨的光子计数成像方法,本发明具有时间分辨光子计数成像、时间分辨率高、空间分辨率高等优点。