发明公开
- 专利标题： 一种F-P腔的精细度测量方法和装置
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申请号： CN202410447964.4申请日： 2024-04-15
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公开(公告)号： CN118032304A公开(公告)日： 2024-05-14
- 发明人: 付小虎 , 张磊 , 焦信陵 , 董金岩
- 申请人： 上海频准激光科技有限公司
- 申请人地址： 上海市嘉定区徐行镇徐潘路1918号2幢2层D区
- 专利权人： 上海频准激光科技有限公司
- 当前专利权人： 上海频准激光科技有限公司
- 当前专利权人地址： 上海市嘉定区徐行镇徐潘路1918号2幢2层D区
- 代理机构： 上海众象合一知识产权代理有限公司
- 代理商 翟国建
- 主分类号： G01M11/02
- IPC分类号： G01M11/02
摘要：
本发明提供一种F‑P腔的精细度测量方法，包括以下步骤：步骤S1、将宽频激光输入待测的F‑P腔；步骤S2、获得F‑P腔的光谱；步骤S3、由光谱获得光谱周期参数和波形参数；步骤S4、根据所述光谱周期参数与波形参数计算获得F‑P腔精细度。本发明还包括对应一种F‑P腔的精细度测量方法的一种F‑P腔的精细度测量装置。本发明提供了一种能够高效测量、兼容性强、准确率高的一种F‑P腔的精细度测量方法和装置。