一种光信号放大装置及方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118300692A

    公开(公告)日:2024-07-05

    申请号:CN202410405475.2

    申请日:2024-04-07

    摘要: 本发明提供一种光信号放大装置,包括:n个光信号发生器,每个光信号发生器用于发出初始光信号,每个光信号发生器发出的光信号的波长不同,n≥2;选择组件,用于在多个n个光信号发生器之间切换,连通n个光信号发生器中的一个,并输出光信号,所述光信号为选择组件连通激光发生器后输出的激光;光学放大器,用于放大所述光信号并输出放大光信号;分光组件,用于分离所述放大光信号,得到多个分离信号;其中,n个光信号发生器、选择组件、光学放大器和分光组件依次连接。本发明还包括对应光信号放大装置的光信号放大方法。本发明提供了一种结构简单、输出脉冲鲁棒性强且满功率脉冲可调的光信号放大装置及方法。

    一种使用激光处理异常物体的方法、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN118334419A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410422948.X

    申请日:2024-04-09

    摘要: 本发明提供了一种使用激光处理异常物体的方法、电子设备及存储介质,涉及激光脉冲领域,所述方法包括如下步骤:获取目标用户的目标异常物体图像,将所述目标异常物体图像输入目标异常物体识别模型,获取目标用户的目标异常物体信息列表,基于目标异常物体的尺寸,确定第一类型激光或第二类型激光为目标异常物体对应的目标类型激光,基于目标类型激光对目标异常物体进行处理,基于目标异常物体的尺寸,选择第一类型激光或第二类型激光进行处理,实现了对第一类型激光和第二类型激光的选择,充分发挥第一类型激光能量更加集中和第二类型激光的工作效率高的优势,从而更好的对目标异常物体进行处理。

    一种增益介质材料确定方法、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117434035A

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202311420457.3

    申请日:2023-10-30

    IPC分类号: G01N21/63

    摘要: 本发明提供了一种增益介质材料确定方法、电子设备及存储介质,涉及增益介质材料类型确定领域,所述方法应用于光束输出装置,所述光束输出装置包括光源元器件、增益介质腔元器件和控制器件;其中,光源元器件能够发出光束至增益介质腔中的增益介质;所述控制器件用于执行以下步骤:获取从增益介质腔中蹦出的初始原子量级;获取每一增益介质材料在目标光束的波长下对应的原子量级;根据初始原子量级以及每一增益介质材料在目标光束的波长下对应的原子量级,确定增益介质腔中的增益介质对应的增益介质材料;本发明能够确定增益介质的具体种类,进而提高生成的激光波长的精度。

    一种增益介质材料温度控制方法、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117335263A

    公开(公告)日:2024-01-02

    申请号:CN202311424457.0

    申请日:2023-10-30

    IPC分类号: H01S5/024 H01S5/12

    摘要: 本发明提供了一种增益介质材料温度控制方法、电子设备及存储介质,涉及增益介质材料温度控制领域,所述方法应用于光束输出装置,所述光束输出装置包括光源元器件、增益介质腔元器件、温度控制器,温度控制器包括处理器;所述处理器用于执行以下步骤:获取增益介质对应的目标增益介质材料;根据目标增益介质材料和预设的增益介质材料属性列表,确定目标增益介质材料对应的隶属函数类型;通过温度控制器对应的隶属函数对增益介质进行温度控制;获取温度控制器控制的增益介质当前的温度偏差和和温度偏差变化率;根据温度偏差和温度偏差变化率的大小,对温度控制器对应的隶属函数的参数进行优化;本发明能够确保增益介质温度控制的精度。

    一种增益介质材料温度控制方法、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117335263B

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202311424457.0

    申请日:2023-10-30

    IPC分类号: H01S5/024 H01S5/12

    摘要: 本发明提供了一种增益介质材料温度控制方法、电子设备及存储介质,涉及增益介质材料温度控制领域,所述方法应用于光束输出装置,所述光束输出装置包括光源元器件、增益介质腔元器件、温度控制器,温度控制器包括处理器;所述处理器用于执行以下步骤:获取增益介质对应的目标增益介质材料;根据目标增益介质材料和预设的增益介质材料属性列表,确定目标增益介质材料对应的隶属函数类型;通过温度控制器对应的隶属函数对增益介质进行温度控制;获取温度控制器控制的增益介质当前的温度偏差和和温度偏差变化率;根据温度偏差和温度偏差变化率的大小,对温度控制器对应的隶属函数的参数进行优化;本发明能够确保增益介质温度控制的精度。

    一种F-P腔的精细度测量方法和装置

    公开(公告)号:CN118032304A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410447964.4

    申请日:2024-04-15

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明提供一种F‑P腔的精细度测量方法,包括以下步骤:步骤S1、将宽频激光输入待测的F‑P腔;步骤S2、获得F‑P腔的光谱;步骤S3、由光谱获得光谱周期参数和波形参数;步骤S4、根据所述光谱周期参数与波形参数计算获得F‑P腔精细度。本发明还包括对应一种F‑P腔的精细度测量方法的一种F‑P腔的精细度测量装置。本发明提供了一种能够高效测量、兼容性强、准确率高的一种F‑P腔的精细度测量方法和装置。

    一种增益介质材料确定方法、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117434035B

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202311420457.3

    申请日:2023-10-30

    IPC分类号: G01N21/63

    摘要: 本发明提供了一种增益介质材料确定方法、电子设备及存储介质,涉及增益介质材料类型确定领域,所述方法应用于光束输出装置,所述光束输出装置包括光源元器件、增益介质腔元器件和控制器件;其中,光源元器件能够发出光束至增益介质腔中的增益介质;所述控制器件用于执行以下步骤:获取从增益介质腔中蹦出的初始原子量级;获取每一增益介质材料在目标光束的波长下对应的原子量级;根据初始原子量级以及每一增益介质材料在目标光束的波长下对应的原子量级,确定增益介质腔中的增益介质对应的增益介质材料;本发明能够确定增益介质的具体种类,进而提高生成的激光波长的精度。

    一种目标激光信息获取方法、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN118334418A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410422945.6

    申请日:2024-04-09

    摘要: 本发明提供了一种目标激光信息获取方法、电子设备及存储介质,涉及激光脉冲的使用领域,所述方法包括如下步骤:获取目标用户的目标异常物体图像,将目标异常物体图像输入目标异常物体识别模型,获取目标用户的目标异常物体信息列表和对应的目标类型激光列表,获取尺寸指定激光信息列表,基于目标异常物体的目标尺寸,获取和目标异常物体相似的预设相似尺寸列表及预设相似尺寸列表对应的相似异常数量列表,获取最小的相似异常数量,并使用最小的相似异常数量对应的第一指定激光信息或第二指定激光信息作为目标激光信息,使用目标激光信息的目标类型激光对目标异常物体进行处理,从而降低出现异常情况的风险。

    一种增益介质材料隶属函数类型确定方法、设备及介质

    公开(公告)号:CN117420863B

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202311425483.5

    申请日:2023-10-30

    IPC分类号: G05D23/30 G06F18/23

    摘要: 本发明提供了一种增益介质材料隶属函数类型确定方法、设备及介质,涉及增益介质材料领域,所述方法包括:获取目标增益介质材料在每一预设的时间段内发光时对应的初始温度向量;对每一初始温度向量进行归一化处理,以得到中间温度向量;获取每一中间温度向量对应的评价值,以得到评价值列表;采用预设的聚类算法,将所有的中间温度向量聚类为若干簇;根据评价值列表和聚类得到的每一簇,确定目标增益介质材料对应的隶属函数类型;本发明能够提高确定出的隶属函数与目标增益介质材料的匹配度,使得通过确定出的隶属函数对增益介质材料的温度控制的精度较高。