发明公开
CN118033502A 磁场测量探头和系统
审中-实审
- 专利标题: 磁场测量探头和系统
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申请号: CN202410158474.2申请日: 2024-02-04
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公开(公告)号: CN118033502A公开(公告)日: 2024-05-14
- 发明人: 王磊 , 聂端 , 黄权 , 李键坷 , 邵伟恒 , 陈义强 , 路国光 , 恩云飞
- 申请人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 申请人地址: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- 专利权人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 当前专利权人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 当前专利权人地址: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- 代理机构: 华进联合专利商标代理有限公司
- 代理商 史治法
- 主分类号: G01R33/06
- IPC分类号: G01R33/06 ; G01R29/08
摘要:
本申请涉及磁场探测技术领域,特别是涉及一种磁场测量探头和系统。磁场测量探头包括目标测量线圈和测量增强电路;目标测量线圈与增强电路连接;目标测量线圈,用于探测干扰源的第一磁场信号和第二磁场信号;测量增强电路,用于配合目标测量线圈探测干扰源的第一磁场信号和第二磁场信号;其中,第一磁场信号用于生成干扰源的电场分量;第二磁场信号用于生成干扰源的磁场分量。本申请相比起现有技术中控制磁场测量探头进行多次测量,实现分别获取干扰源的电场分量和磁场分量的过程,能够有效的提高获取电场分量和磁场分量的效率,防止在对干扰源进行多次测量时引入机械位置误差,从而导致测量结果出现偏差。