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公开(公告)号：CN119510941A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411615547.2
申请日：2024-11-13
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00 , G01R31/52 , G01R31/54 , G06F18/2415 , G06F18/211 , G06F18/10 , G06F18/2131 , G06F123/02
Abstract: 本申请涉及一种故障诊断方法、装置、设备及计算机可读存储介质。方法包括：获取电力电子设备的电力参数信息集合中每个电力参数信息对应的反余弦值以及反正弦值；根据各电力参数信息对应的反余弦值以及反正弦值，确定各电力参数信息的三角差分特征值；根据各三角差分特征值，构建电力电子设备的电力参数特征图；采用参数故障诊断模型对电力参数特征图进行处理，得到电力电子设备的故障诊断结果。采用本方法能够提高电力电子设备的故障诊断结果的准确性。
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公开(公告)号：CN119438644A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411619070.5
申请日：2024-11-13
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种COS激光芯片测试夹具总成以及测试系统。COS激光芯片测试夹具总成包括承载底座、绝缘压板、导电组件以及导热组件。激光芯片可拆卸连接于所述绝缘压板以及所述承载底座之间。至少部分绝缘压板、导电组件以及承载底座沿承载底座的厚度方向上依次重叠设置。激光芯片通过导电组件与外部的电源组件电连接。激光芯片通过所述导热组件与所述承载底座间隔设置。导热组件能够被控制形成热端和冷端。冷端用于与激光芯片的热沉组件配合进行热交换以对激光芯片进行预冷处理。热端用于与承载底座抵接配合进行热交换以使通过承载底座进行散热。本申请中的COS激光芯片测试夹具总成有利于提高测试过程中的芯片散热效果问题。
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公开(公告)号：CN119377775A
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN202411517129.X
申请日：2024-10-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F18/241 , G06F18/213 , G06F18/10 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06N3/0455 , G06N3/047
Abstract: 本发明公开了一种电力电子设备参数性故障诊断方法和计算机设备，所述方法包括：采集电力电子设备的电流信号，通过归一化公式对电流信号进行归一化处理得到归一化后的特征值；对特征值求取反余弦值；通过欧拉公式构造欧拉差分公式，将特征值对应的反余弦值代入欧拉差分公式得到欧拉差分特征值；将欧拉差分特征值转换为灰度图，作为Vision Transformer模型的输入特征图像；利用Vision Transformer模型对输入特征图像进行分类，得到图像类别作为电力电子设备不同类型参数性故障的诊断结果。本发明能够实现电力电子设备参数性故障的精确诊断，克服由于电力电子设备不同程度的老化之间特征变化不明显、难以对退化特征进行有效提取所导致的电力电子设备参数性故障诊断不准确的问题。
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公开(公告)号：CN119064768B
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411570987.0
申请日：2024-11-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种倒装芯片互连可靠性测试方法和计算机设备，所述方法针对需进行可靠性测试评估的倒装芯片制作测试芯片，测试芯片采用与实际芯片相同的封装工艺，通过多路独立的菊花链式焊点结构实现芯片与基板互连，通过芯片端和基板端内置测温元件实现焊点温度监测，通过芯片端和基板端内置加热元件实现焊点温度应力加载，通过外置电流应力加载实现芯片的温度控制以及互连焊点的电流加载进而可实现高温、功率循环、电迁移以及热迁移等可靠性测试。本发明能够有效解决传统方案中需搭载多套温度控制设备、需大量测试样品，热迁移测试过程中热梯度差难以量化评估，以及电迁移测试过程焊点实际温度高于温度控制设备设置的温度等问题。
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公开(公告)号：CN118604468A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410995473.3
申请日：2024-07-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请提供一种电磁场复合探头、电磁测量方法和电磁测量装置，涉及电磁测量技术领域，该电磁场复合探头包括第一感应线圈和第二感应线圈，第一感应线圈具有第一端口和第二端口，第二感应线圈具有第三端口和第四端口，第一端口、第二端口、第三端口和第四端口分别用于输出两个感应线圈共同感应探测区域沿两个方向的电磁场生成的第一电信号、第二电信号、第三电信号和第四电信号，第一电信号、第二电信号、第三电信号和第四电信号用于确定沿两个方向的电磁场强度。本申请的电磁场复合探头可探测两个方向的电磁场分量，能够提高电磁场测量时的探测效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116400152B
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202310242891.0
申请日：2023-03-13
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种器件的可靠性确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：对施加了应力和功率射频信号的多个测试器件分别进行传输特性监测，得到每一测试器件各自的传输特性监测结果；当传输特性监测结果表征达到器件失效条件时，根据传输特性监测结果，确定器件失效时间；基于每一测试器件各自的器件失效时间，确定器件特征寿命与器件使用时间的关联关系；当获取到针对目标器件的可靠度分析请求时，基于目标器件的使用时间，按照关联关系确定目标器件的目标特征寿命；根据目标特征寿命所表征的时长，确定目标器件的使用可靠性。采用本方法能够对器件的可靠性做出准确评价。
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公开(公告)号：CN112285611B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202010983672.4
申请日：2020-09-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及失效分析技术领域，具体公开一种器件失效分析定位方法，包括：对扫描探头进行校准，获取校准数据；控制扫描探头对待测器件进行扫描，并获得第一参数信息，第一参数信息用于表征待测器件扫描高度平面的电磁场信息；根据第一参数信息和校准数据，确定待测器件目标高度平面的电磁场信息；根据待测器件目标高度平面的电磁场信息，确定待测器件表面的电学分布；根据待测器件表面的电学分布，确定待测器件的失效位置。基于电磁注入和探测的原理，结合待测器件表面的电磁场信息实现对待测器件的失效位置的分析，相对于传统的失效分析方法而言，成本较低，且无需对待测器件进行破坏，整体失效定位方法可靠性较高。
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公开(公告)号：CN117706317B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202410168535.3
申请日：2024-02-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请涉及一种热阻测试方法和热阻测试电路。方法包括：目标宽禁带半导体器件的温度为第一温度的情况下，控制目标宽禁带半导体器件中的缺陷捕获载流子；在捕获载流子后，控制目标宽禁带半导体器件中缺陷捕获的载流子释放，并在载流子释放的过程中，采集目标宽禁带半导体器件中栅极电容的电容变化数据；根据第一温度、电容变化数据以及目标宽禁带半导体器件的功率确定目标宽禁带半导体器件的热阻。采用本方法能够可以实现宽禁带半导体器件的无损测试。
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公开(公告)号：CN116359708B
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202310344389.0
申请日：2023-03-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种芯片安全测试电路、方法及设备。该芯片安全测试电路包括：电压毛刺激发模块，用于向芯片测试板电路输出携带电压毛刺的电源电压信号；芯片测试板电路，用于根据所述电源电压信号和接收的测试输入数据，输出测试输出数据；数据采集与处理模块，用于采集所述测试输入数据、所述测试输出数据以及所述电源电压信号，并根据所述测试输入数据、所述测试输出数据以及所述电源电压信号，检测所述芯片测试板电路中芯片的安全性。该芯片安全测试电路可以实现以自动进行硬件注入故障的方式测试芯片的安全性，保证测试环境与真实环境基本一致，因此可以提升芯片安全测试的准确度。
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公开(公告)号：CN118033497A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410156024.X
申请日：2024-02-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁场测量探头、方法、装置和系统。属于电磁探测技术领域，所述电磁场测量探头包括：连接器和叠层设置的多层电路板；其中，多层电路板包括第一环路板和第二环路板。本申请中的第一环路板上具有第一差分环路，第一差分环路用于探测干扰源的第一电磁信号，并将第一电磁信号输出至连接器。本申请中的第二环路板上具有第二差分环路，第二差分环路用于探测干扰源的第二电磁信号，并将第二电磁信号输出至连接器。基于本申请的电磁场测量探头可同时测量电场分量和磁场分量，降低了测量电场分量和磁场分量时的复杂度，提高了测量效率。
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