- 专利标题： 准直型SPECT探测器贡献系数获取方法、终端及介质
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申请号： CN202410439559.8申请日： 2024-04-12
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公开(公告)号： CN118033720A公开(公告)日： 2024-05-14
- 发明人: 王盛 , 严明飞 , 范晶晶
- 申请人： 华硼中子科技(杭州)有限公司
- 申请人地址： 浙江省杭州市上城区九环路63号2幢A座135室
- 专利权人： 华硼中子科技(杭州)有限公司
- 当前专利权人： 华硼中子科技(杭州)有限公司
- 当前专利权人地址： 浙江省杭州市上城区九环路63号2幢A座135室
- 代理机构： 上海光华专利事务所
- 代理商 牛莎莎
- 主分类号： G01T3/06
- IPC分类号： G01T3/06 ; G06T11/00 ; G06T7/60 ; A61N5/10
摘要：
本申请提供一种准直型SPECT探测器贡献系数获取方法、终端及介质，其中，方法包括：提取辐射源区中各辐射源子区的空间分布，和提取探测器准直后的当前视场域的空间分布；基于各所述辐射源子区的空间分布和所述当前视场域的空间分布，获取各所述辐射源子区对应的覆盖信息；基于各所述辐射源子区对应的覆盖信息，获得探测器于当前探测角度下的贡献系数，本申请提高了贡献系数获取的准确性，从而有效地提升了探测对象所对应重构图像的重构效果。
公开/授权文献
- CN118033720B 准直型SPECT探测器贡献系数获取方法、终端及介质 公开/授权日：2024-08-13
