本申请公开了一种应用于Flash ADC的比较器及失调校正方法，所述比较器包括恒流源Ib1、Ib2，NMOS管M0、M1、M2、M3、M8、M9、M11，PMOS管M4、M5、M6、M7、M10、M12，所述恒流源Ib1、Ib2为比较器提供偏置电流，所述NMOS管M2、M3为输入差分对管；所述NMOS管M0被配置为：漏极及栅极接恒流源Ib1、源极接地，并与NMOS管M1组成电流镜结构，为NMOS管M1提供偏置电流；比较器传统比较器技术相比，在同一级当中将预放大和锁存过程先后进行，将预放大和锁存放到同一级实现，消除了传统两级比较器技术中级间驱动的过程，实现了比较器速度的提升。