本申请涉及芯片检测技术领域，具体涉及基于人工智能的芯片检测方法及系统，该方法包括：获取局部电流变化序列和局部电压变化序列；计算每个电流数据的电流规律性递变指数；计算各电流规律性递变指数的融合电流调节指数；计算各采样时刻的电变量规律性突变指数；获取每个检测点的电变量突变序列；计算各采样时刻的突变异常增益系数；计算各采样时刻的电变量突变异常指数；获取异常检测集合，完成对集成电路芯片的故障检测。本申请提高了对集成电路芯片故障检测的效率和准确性，本申请的芯片检测系统可实现全自动全气候的芯片检测，降低成本，提高检测效率，缩短检测周期。