Invention Grant
- Patent Title: LED灯带缺陷检测模型的训练方法、装置、计算机可读存储介质及LED灯带缺陷检测方法
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Application No.: CN202410767574.5Application Date: 2024-06-14
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Publication No.: CN118351422BPublication Date: 2024-08-16
- Inventor: 周文辉 , 刘志业 , 黎冬媛
- Applicant: 电子科技大学中山学院
- Applicant Address: 广东省中山市石岐区学院路1号
- Assignee: 电子科技大学中山学院
- Current Assignee: 电子科技大学中山学院
- Current Assignee Address: 广东省中山市石岐区学院路1号
- Agency: 深圳市翼智博知识产权事务所
- Agent 黄莉
- Main IPC: G06V10/82
- IPC: G06V10/82 ; G06N3/0455 ; G06N3/08 ; G06V10/74 ; G06V10/762 ; G06V10/774 ; G06V10/80

Abstract:
本发明实施例提供一种LED灯带缺陷检测模型的训练方法、装置、计算机可读存储介质及LED灯带缺陷检测方法,训练方法包括:提供LED灯带训练集;从LED灯带训练集中选取出K个典型正类样本,并存入记忆池;获取各个正类样本对应的伪异常样本;以及将剩余正类样本和伪异常样本作为输入图像进行模型训练:采用特征提取网络提取输入图像在各个预定维度的高级特征信息;获得输入图像和记忆样本之间的差异信息,并确定最佳差异信息;获得串联信息;基于串联信息获得融合特征图;以及获取空间注意力图,并将各个空间注意力图通过跳跃连接流向解码器输出预测图像。本实施例能提高模型的鲁棒性,方便不同数据集上进行扩展。
Public/Granted literature
- CN118351422A LED灯带缺陷检测模型的训练方法、装置、计算机可读存储介质及LED灯带缺陷检测方法 Public/Granted day:2024-07-16
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