Invention Publication
- Patent Title: 一种大尺寸红外光学材料光学均匀性检测装置及方法
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Application No.: CN202410441935.7Application Date: 2024-04-12
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Publication No.: CN118392832APublication Date: 2024-07-26
- Inventor: 李梦旭 , 李凌 , 崔程光 , 陶鑫 , 于宗伟 , 王任远 , 范龙飞 , 陆玉婷 , 王向东 , 陈宗 , 陈西
- Applicant: 北京空间机电研究所
- Applicant Address: 北京市海淀区友谊路104号
- Assignee: 北京空间机电研究所
- Current Assignee: 北京空间机电研究所
- Current Assignee Address: 北京市海淀区友谊路104号
- Agency: 中国航天科技专利中心
- Agent 高志瑞
- Main IPC: G01N21/59
- IPC: G01N21/59 ; G01N21/01 ; G01B11/24

Abstract:
本发明公开了一种大尺寸红外光学材料光学均匀性检测装置及方法,其中,该装置包括:红外光源、平行光管、半反半透镜、待测红外材料、第一成像透镜、第一成像相机、第二成像透镜和第二成像相机;其中,通过红外光源和平行光管提供平行光,只需2次光路调整后测试即可获得光学均匀性测试所需的待测红外材料的透射波前、待测材料前表面面形、待测材料后表面面形、空腔波前。本发明解决了大尺寸红外材料光学均匀性测试中的大尺寸标准平面反射镜调整后静置耗时长、红外干涉仪获取困难的问题。
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