发明公开
- 专利标题： 局部基准数据的分析方法、装置、设备和存储介质
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申请号： CN202410427025.3申请日： 2024-04-10
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公开(公告)号： CN118408504A公开(公告)日： 2024-07-30
- 发明人: 陈伟 , 王燕梅 , 张博 , 周智汉 , 邢俊峰
- 申请人： 阿维塔科技(重庆)有限公司
- 申请人地址： 重庆市渝北区金开大道西段106号1幢1层24号
- 专利权人： 阿维塔科技(重庆)有限公司
- 当前专利权人： 阿维塔科技(重庆)有限公司
- 当前专利权人地址： 重庆市渝北区金开大道西段106号1幢1层24号
- 代理机构： 北京派特恩知识产权代理有限公司
- 代理商 任强; 张颖玲
- 主分类号： G01B21/04
- IPC分类号： G01B21/04
摘要：
本申请公开了一种局部基准数据的分析方法、装置、设备和存储介质；所述方法包括：在数据平台构建白车身在局部基准坐标系下的虚拟零件，所述虚拟零件与所述局部基准坐标系的局部基准坐标系信息、所述局部基准坐标系涉及的局部测点的第一测点信息关联；将所述虚拟零件关联至全局基准坐标系下的全局测点的第二测点信息；基于所述虚拟零件关联的局部基准坐标系信息、第一测点信息和第二测点信息，生成偏差报告。