Invention Publication
- Patent Title: 测试用例的测试方法及装置、存储介质及电子设备
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Application No.: CN202410536200.2Application Date: 2024-04-29
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Publication No.: CN118445186APublication Date: 2024-08-06
- Inventor: 韩鑫 , 宁宁 , 谢向阳
- Applicant: 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
- Applicant Address: 山东省济南市高新区港西路2177号港盛大厦4层401室
- Assignee: 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
- Current Assignee: 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
- Current Assignee Address: 山东省济南市高新区港西路2177号港盛大厦4层401室
- Agency: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- Agent 王晓婷
- Main IPC: G06F11/36
- IPC: G06F11/36

Abstract:
本申请实施例提供了一种测试用例的测试方法及装置、存储介质及电子设备,其中,该测试用例的测试方法包括:在确定测试用例待测试的情况下,获取所述测试用例对应的配置数据,其中,所述配置数据至少用于指示所述测试用例对应的第一寄存器的配置参数,所述第一寄存器与所述测试用例对应的第一IP模块存在关联,所述多个IP模块包括所述第一IP模块;确定所述测试用例对应的约束条件,并根据所述配置数据确定所述测试用例是否满足所述约束条件,其中,所述约束条件用于指示多个寄存器的约束关系,所述多个寄存器包括所述第一寄存器;在确定所述测试用例不满足所述约束条件的情况下,终止对所述测试用例进行测试。
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