发明公开
- 专利标题: 一种轴承内圈全表面缺陷检测系统
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申请号: CN202410548886.7申请日: 2024-05-06
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公开(公告)号: CN118533750A公开(公告)日: 2024-08-23
- 发明人: 李俊峰 , 张一康 , 潘海鹏
- 申请人: 浙江理工大学 , 浙江理工大学常山研究院有限公司
- 申请人地址: 浙江省杭州市钱塘区白杨街道2号大街928号;
- 专利权人: 浙江理工大学,浙江理工大学常山研究院有限公司
- 当前专利权人: 浙江理工大学,浙江理工大学常山研究院有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市钱塘区白杨街道2号大街928号;
- 代理机构: 浙江永航联科专利代理有限公司
- 代理商 张进
- 主分类号: G01N21/01
- IPC分类号: G01N21/01 ; G01N21/954
摘要:
本发明提供一种轴承内圈全表面缺陷检测系统,包括进料装置、第一图像采集装置、第二图像采集装置、第三图像采集装置、翻转装置、第四图像采集装置、第五图像采集装置、筛选装置和夹取装置;第一图像采集装置用于采集轴承内圈的内滚道图像,第二图像采集装置用于采集轴承内圈的内孔、小端面倒角和大挡边外径图像,第三图像采集装置用于采集轴承内圈的小端面和挡边图像,翻转装置用于翻转轴承内圈,第四图像采集装置用于采集轴承内圈的内孔、大端面倒角和大挡边外径图像,第五图像采集装置用于采集轴承内圈的大端面图像,筛选装置用于根据轴承内圈的图像检测结果筛选出不合格的轴承内圈。本发明实现轴承内圈的全表面图像的采集与检测。