发明公开
- 专利标题： 一种类比运放功率级的自适应死区产生和过零检测复用电路
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申请号： CN202410687069.X申请日： 2024-05-30
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公开(公告)号： CN118554758A公开(公告)日： 2024-08-27
- 发明人: 李凡阳 , 邓文仁 , 潘杰 , 原义栋 , 胡毅 , 沈红伟 , 温立国
- 申请人： 福州大学 , 北京智芯微电子科技有限公司
- 申请人地址： 福建省福州市闽侯县福州大学城乌龙江北大道2号福州大学;
- 专利权人： 福州大学,北京智芯微电子科技有限公司
- 当前专利权人： 福州大学,北京智芯微电子科技有限公司
- 当前专利权人地址： 福建省福州市闽侯县福州大学城乌龙江北大道2号福州大学;
- 代理机构： 福州元创专利商标代理有限公司
- 代理商 丘鸿超; 蔡学俊
- 主分类号： H02M3/158
- IPC分类号： H02M3/158 ; H02M1/08
摘要：
本发明提供一种类比运放功率级的自适应死区产生和过零检测复用电路类比运放功率级的自适应死区产生和过零检测复用电路，利用开关电源开关节点同时包含了过零信息与死区时间信息这一特点，将两个电路中的检测电路相结合的电路，在具有良好自适应过零检测与自适应死区时间控制的基础上实现了更小的电路面积与功耗。
IPC分类:
