发明授权
- 专利标题: 针对RCD芯片中寄存器的验证系统
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申请号: CN202411043480.X申请日: 2024-07-31
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公开(公告)号: CN118569161B公开(公告)日: 2024-10-08
- 发明人: 请求不公布姓名 , 请求不公布姓名 , 请求不公布姓名 , 请求不公布姓名 , 请求不公布姓名
- 申请人: 成都电科星拓科技有限公司
- 申请人地址: 四川省成都市高新区府城大道西段399号7栋3单元14层1409号
- 专利权人: 成都电科星拓科技有限公司
- 当前专利权人: 成都电科星拓科技有限公司
- 当前专利权人地址: 四川省成都市高新区府城大道西段399号7栋3单元14层1409号
- 代理机构: 成都川审专利代理事务所
- 代理商 刘康宁
- 主分类号: G06F30/33
- IPC分类号: G06F30/33 ; G06F11/22
摘要:
本发明公开了一种针对RCD芯片中寄存器的验证系统。为降低验证工作量和测试遗漏风险,本发明针对RCD芯片中寄存器的验证系统,至少包括验证环境层和待测试设计模块,验证环境层至少包括寄存器抽象层、寄存器访问模块、边带命令代理模块、CAB命令代理模块和DRAM命令代理模块;待测试设计模块包括边带接口、CAB接口和DRAM接口;边带命令代理模块和边带接口建立连接,CAB命令代理模块和CAB接口建立连接,DRAM命令代理模块和DRAM接口建立连接;寄存器访问模块与寄存器抽象层建立数据通路,寄存器访问模块还接收DRAM命令代理模块中的监视器从DRAM接口中采集和回传的MRW命令。本发明提高了验证效率和可靠性,实现不同配置通路之间的交叉验证。本发明适于芯片测试领域。
公开/授权文献
- CN118569161A 针对RCD芯片中寄存器的验证系统 公开/授权日:2024-08-30