发明公开
- 专利标题: 一种分布光度测量方法及装置
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申请号: CN202410617303.1申请日: 2024-05-17
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公开(公告)号: CN118641025A公开(公告)日: 2024-09-13
- 发明人: 潘建根 , 曹良才 , 张向宇 , 温莹莹 , 李倩
- 申请人: 清华大学 , 杭州远方光电信息股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清华园;
- 专利权人: 清华大学,杭州远方光电信息股份有限公司
- 当前专利权人: 清华大学,杭州远方光电信息股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华园;
- 主分类号: G01J1/02
- IPC分类号: G01J1/02 ; G01J1/04
摘要:
本发明提供一种分布光度测量方法,旨在解决现有机械臂末端位姿测量不精确的问题,包括第一位姿测量方法和第二位姿测量方法,通过以下步骤获得在一段运动中光辐射信息与精确位姿的对应关系:S1:在一段运动中,机械臂末端按预设轨迹运动,采用第一位姿测量方法得到实时位姿信息,并且在不同末端位姿下测光部件测量被测发光体的光辐射信息;S2:在该段运动结束时使用第二位姿测量方法得到机械臂末端的精确终止位姿;S3:根据预设运动轨迹和精确终止位姿对采集实时位姿信息进行修正,获得修正的精确位姿信息。本发明具有测试效率高,测量精度高,灵活性强等优点。