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公开(公告)号：CN118641025A
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202410617303.1
申请日：2024-05-17
申请人： 清华大学 , 杭州远方光电信息股份有限公司
摘要： 本发明提供一种分布光度测量方法，旨在解决现有机械臂末端位姿测量不精确的问题，包括第一位姿测量方法和第二位姿测量方法，通过以下步骤获得在一段运动中光辐射信息与精确位姿的对应关系：S1：在一段运动中，机械臂末端按预设轨迹运动，采用第一位姿测量方法得到实时位姿信息，并且在不同末端位姿下测光部件测量被测发光体的光辐射信息；S2：在该段运动结束时使用第二位姿测量方法得到机械臂末端的精确终止位姿；S3：根据预设运动轨迹和精确终止位姿对采集实时位姿信息进行修正，获得修正的精确位姿信息。本发明具有测试效率高，测量精度高，灵活性强等优点。
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公开(公告)号：CN118641148A
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202410617151.5
申请日：2024-05-17
申请人： 杭州远方光电信息股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种灯具空间光场测量方法及测量系统，利用第一成像测量装置测量被测灯具在两个或以上局部角度区间内的远场被照面照度分布，合成得到被测灯具全域空间光强分布；同时利用第二成像测量装置测量被测灯具在两个或以上位姿下的发光面图像，以更精准地获得第一成像测量装置测量时灯具的位姿信息，利用各个角度下的发光面图像计算得到被测灯具的全域光线集信息，并进一步推导更多空间光场分布数据；灯具空间光场测量系统包括安装被测灯具的旋转台、漫射屏、第一成像测量装置、第二成像测量装置和数据收发控制单元；第一成像测量装置对准漫射屏测量，所述第二成像测量装置对准被测灯具测量；在所述旋转台与漫射屏之间设置两组或以上消杂光光阑。
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公开(公告)号：CN118009883A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410180339.8
申请日：2024-02-18
申请人： 杭州远方光电信息股份有限公司
IPC分类号： G01B11/00
摘要： 本发明公开了一种光电三坐标测量方法，将被测灯放置在承载台上，通过以下步骤确定被测灯光度中心的空间位置坐标：S1：使用三个位置成像单元分别从不同方向进行拍摄，分别获得第一图像信息、第二图像信息和第三图像信息；所述三个位置成像单元的主光轴不共面，且至少两个位置成像单元的测量视场覆盖被测灯；S2：数据收发控制单元根据三个图像信息计算分析得到被测灯光度中心在世界坐标系下的三维位置坐标。本发明应用于整车灯光性能试验中，通过合理设计三个位置成像单元，结合图像识别和深度学习算法有效获得前照灯的三维坐标，结构简单，易于操作，测量成本低且测量准确度高。
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公开(公告)号：CN102012266A
公开(公告)日：2011-04-13
申请号：CN200910102364.X
申请日：2009-09-07
申请人： 杭州远方光电信息股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种光合辐射照度计及其测量方法，照度计包括一个光谱仪，一个宽波段辐射探头，二者都与微电子处理单元电连接，宽波段辐射探头的光谱灵敏度与某一光辐射系统的响应曲线相匹配。光谱仪和宽波段辐射探头同时测量被测光，使用光谱修正系数校正宽波段辐射探头的测量值，大幅降低由探头的光谱失匹配带来的误差；根据光合辐射照度和光谱可计算出被测光的绝对光谱功率，可进一步通过计算得到其它系统下的光合辐射照度量值。本发明的光合辐射照度计对光谱仪和宽波段辐射探头的精度要求不高，易于实现，且使用方便，能够同时实现多个系统下的光合辐射照度测量，测量精度较高。
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公开(公告)号：CN108872883B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN201810403584.5
申请日：2018-04-28
申请人： 杭州远方光电信息股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种光源自动测试系统，包括上下灯机械装置、用于测量被测光源光学性能的光学测量装置、上灯单元、下灯单元以及用来驱动被测光源至光学测量装置处实现光学性能检测的环形传送装置；所述的光学测量装置位于环形传送装置的传送路径上，所述的上下灯机械装置从上灯单元抓取待测的被测光源移送至环形传送装置，且从环形传送装置抓取已测的被测光源移送至下灯单元；所述的上灯单元包括多个用以安装被测光源的灯座；所述的环形传送装置与上灯单元相独立设置，所述的下灯单元也与环形传送装置相独立设置。通过所述的上灯单元可对被测光源进行提前老炼，传送过程可实现被测光源的自动预热稳定，测试结束可对被测光源进行合格判定，整个测试过程由控制单元控制自动完成。与现有的光源自动测试系统相比，本发明提供的测试系统具有自动化程度高、测试精度高、操作简便、节约人工成本和空间成本，适用范围
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公开(公告)号：CN115200837A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202210674550.6
申请日：2022-06-15
申请人： 杭州远方光电信息股份有限公司
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明公开了一种内窥镜光学性能测试系统和测试方法，包括均匀面光源、用于装载内窥镜的样品台、装载两个或以上标靶的标靶台和控制单元；标靶台中包括一个测试位和标靶切换装置，测试位位于均匀面光源与样品台之间靠近均匀面光源的出光口一侧，标靶切换装置中包括将标靶切换到测试位的一个或以上的驱动电机；被测内窥镜自带摄像装置或者被测内窥镜的目视端连接测试用成像测量装置，通过自带摄像装置或者成像测量装置对于在各个标靶下所获得的图像信息进行分析进而获得对应参数。本发明可实现较现有内窥镜测量技术更自动化、操作简便化、测量参数综合化、测试结果准确化的目标，特别可实现内窥镜安装对准后的无人工辅助的自动多项测试项的测量。
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公开(公告)号：CN114112021A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111335901.2
申请日：2021-11-12
申请人： 杭州远方光电信息股份有限公司
摘要： 本发明提供一种超大视场成像校准方法，通过提供均匀积分球校准光源进行大视场成像校准，有效解决现有技术中光学成像装置的视场角过大，成像校准时仅对角积分球的出光口无法校准整个视场，而伸入积分球内部拍摄由于挡光带来的均匀性差的技术问题。本发明还提供一种超大视场成像校准装置，结构简单，使用方便，提高了大视场成像均匀性，而且能够保证大视场成像校准的准确性，避免了人工操作测量产生的误差。
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公开(公告)号：CN102155991B
公开(公告)日：2012-08-08
申请号：CN201110066835.3
申请日：2011-03-18
申请人： 杭州远方光电信息股份有限公司
IPC分类号： G01J3/28
摘要： 本发明公开了一种高级光谱校正方法，利用光辐射仅限于短波自由波段的校准光源测量计算出光谱仪器的高级光谱函数，利用该函数可对光谱仪器所测量光源的测量结果进行校正，得到较为精确的测量值。利用本发明公开的高级光谱校正方法，无须改变光谱仪器的内部构造，设计简单，使用方便，通过一次测量通用的高级光谱校正函数即可校正光谱仪器测量波段内所有级次的短波高级光谱，测量准确度高且速度快。
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公开(公告)号：CN101782428B
公开(公告)日：2012-02-29
申请号：CN200910095709.3
申请日：2009-01-16
申请人： 杭州远方光电信息股份有限公司
IPC分类号： G01J1/10
摘要： 本发明公开了一种光谱自校正光度计及其测量方法，包括入光口、光学分光镜、光谱仪和具有滤色片的硅光电池，光学分光镜将被测光按固定比例至少分成两束，一部分光束被光谱仪接收，另一部分光束被硅光电池接收，二者同时测得同一束被测光。本发明的光谱自校正光度计能大幅减小由光谱失匹配带来的误差，对被测光的光谱依赖性小，且克服了由被测光源的空间光谱功率分布不一致和发光随时间变化等带来的问题，测量的系统误差和随机误差都相对较小，测量重复性高；利用绝对光谱辐射计作为标准源定标本发明的光谱自校正光度计，光辐射度的绝对量值传递链很短，光谱自校正光度计具有较高精度和可靠性的绝对量值，可应用于各种光辐射测量系统，测量多种重要的光辐射参数。
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公开(公告)号：CN102155991A
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN201110066835.3
申请日：2011-03-18
申请人： 杭州远方光电信息股份有限公司
IPC分类号： G01J3/28
摘要： 本发明公开了一种高级光谱校正方法，利用光辐射仅限于短波自由波段的校准光源测量计算出光谱仪器的高级光谱函数，利用该函数可对光谱仪器所测量光源的测量结果进行校正，得到较为精确的测量值。利用本发明公开的高级光谱校正方法，无须改变光谱仪器的内部构造，设计简单，使用方便，通过一次测量通用的高级光谱校正函数即可校正光谱仪器测量波段内所有级次的短波高级光谱，测量准确度高且速度快。
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