本发明提供一种H桥拓扑电路的短路故障检测方法，H桥拓扑电路的短路故障检测方法包括：S‑1：检测H桥拓扑电路中器件是否发生短路故障，若否，检测结束；S‑2：若器件发生短路故障，则对所述H桥拓扑电路的直流侧外加直流电源，并通入电流；S‑3：基于通电后所述H桥拓扑电路中各器件的阻抗差异，对故障器件进行定位。根据本发明通过判断器件是否发生短路故障后，通过对检测H桥拓扑电路的直流侧加直流电源并调整直流电源的大小，利用已短路损坏MOSFET和正常MOSFET的DS阻抗差异，使得能清楚获取到检测H桥拓扑电路所对应器件的发热状况，通过对应器件发热的差异化，可以定位出正常和故障器件的位置，做到快速、精准化的定位。