- 专利标题： 大口径空间成像系统的非均匀校正及正确性检测方法
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申请号： CN202411270486.0申请日： 2024-09-11
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公开(公告)号： CN118784998B公开(公告)日： 2024-11-15
- 发明人: 余达 , 韩诚山 , 李祥之 , 薛旭成 , 吴清文 , 张艳鹏 , 唐泽
- 申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 申请人地址： 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
- 专利权人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 当前专利权人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 当前专利权人地址： 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
- 代理机构： 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218专利代理师高一明
- 主分类号： H04N25/671
- IPC分类号： H04N25/671 ; H04N25/766
公开/授权文献
- CN118784998A 大口径空间成像系统的非均匀校正及正确性检测方法 公开/授权日：2024-10-15
