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发明公开
CN118799233A CMOS光斑探测相机图像非均匀性校正的改进方法 审中-实审

  • 专利标题： CMOS光斑探测相机图像非均匀性校正的改进方法
  • 申请号： CN202410912014.4
    申请日： 2024-07-08
  • 公开(公告)号： CN118799233A
    公开(公告)日： 2024-10-18
  • 发明人: 王睿 , 张琪
  • 申请人： 同济大学
  • 申请人地址： 上海市杨浦区上海市四平路1239号
  • 专利权人： 同济大学
  • 当前专利权人： 同济大学
  • 当前专利权人地址： 上海市杨浦区上海市四平路1239号
  • 代理机构： 上海科律专利代理事务所
  • 代理商 叶凤
  • 主分类号： G06T5/80
  • IPC分类号： G06T5/80
CMOS光斑探测相机图像非均匀性校正的改进方法
摘要：
针对CMOS光斑探测相机图像非均匀性问题，本发明公开了一种CMOS光斑探测相机图像非均匀性校正的改进方法，为针对基于标定类的非均匀性校正方案，包括：S1探测器图像采集进行灰度值计算以及响应输出；S2计算多点标定增益系数和校正偏置系数；S3通过非均匀性大小计算像元响应的非均匀性情况。基于CMOS原始图像受非均匀性的影响严重，应用本发明方法在过后期图像处理和校正。
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