发明公开

半导体存储装置
摘要:
一种半导体存储装置,包括错误位检测部,以位为单位检测半导体存储装置的读取数据以及预期数据是否为一致,输出通过或失败信息的错误位数据,该通过或失败信息显示检测到的每个位是否为一致;以及位计数部,计数错误位数据之中,显示读取数据与预期数据的不一致的错误位数,或显示一致的数量的通过位数。再者,也包括在读取动作中,用以输入外部的预期值的接口以及输出错误位数及/或通过位数代替读取数据的接口。
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