本公开涉及测试技术领域，公开了一种电容的测试方法及装置，该方法为：分别为检测基板上各个像素点中的各个独立电容建立目标测试点位，基于目标测试点位分别测量各个独立电容的第一电容值，并基于第一电容值确定各个像素点中的各个独立电容是否合格，基于检测合格的像素点和关联像素点，确定检测合格的像素点的第二电容值和综合电容值，其中，关联像素点为与检测合格的像素点在检测基板的布局上有位置关联关系的像素点，基于第二电容值和综合电容值确定各像素点的综合电容是否合格，从而能够精确模拟出耦合电容的大小，进而确定各像素点的独立电容和综合电容是否合格，从而使不同像素点的电容值更加均衡。