发明公开
- 专利标题: 一种单晶硅电池片储能老化测试方法
-
申请号: CN202410938228.9申请日: 2024-07-12
-
公开(公告)号: CN118890004A公开(公告)日: 2024-11-01
- 发明人: 沈晓 , 金龙 , 冯春亮 , 金刘 , 姬良莉 , 陆波 , 周兵 , 袁善祥
- 申请人: 江苏格林保尔光伏有限公司
- 申请人地址: 江苏省常州市武进高新技术产业开发区龙门路1号
- 专利权人: 江苏格林保尔光伏有限公司
- 当前专利权人: 江苏格林保尔光伏有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省常州市武进高新技术产业开发区龙门路1号
- 代理机构: 北京华夏博通专利事务所
- 代理商 郭伟仪
- 主分类号: H02S50/10
- IPC分类号: H02S50/10
摘要:
本发明公开了一种单晶硅电池片储能老化测试方法,其测试方法包括以下步骤:S1、挑选电池片,S2、准备测试,S3、开始检测,S4、在线监测,S5、重复测试。本发明通过在测试开始前,工作人员选着合适的单晶硅电池片,然后讲电池片选为新旧两组测试组,且每一组里面包含三个电池片,接着工作人员采用清洁海绵与电池清洗剂对电池片进行逐一擦拭与烘干,并且通过检测设备检测电池片的接头与连接线是否可用,避免在测试时发生失灵的问题,通过对电池片的提前清洁与检测,避免电池片因灰尘不洁净而导致实验的停止,从而保证对电池片储能老化测试的稳定性与准确性。