本发明公开了芯片检测装置及检测方法，该芯片检测装置包括第二检测机构的两侧分别设置有第一上料机构和第一接收机构，第一接收机构另一侧设置有第二接收机构，第一上料机构、第二检测机构、第一接收机构，以及第二接收机构的上端设置有移动挑选机构；第一上料机构可接收芯片托盘，并对芯片托盘进行检测，第二检测机构可通过移动挑选机构接收第一上料机构上的芯片并检测缓存，移动挑选机构可对第二检测机构上的芯片托盘或芯片进行抓取并放置到第一接收机构或第二接收机构进行下料。本发明的有益效果为能够实现高精度、高效率的芯片检测，同时提高自动化程度，降低人工干预，从而满足市场对于高质量芯片的需求。