Invention Publication
- Patent Title: 一种用于测量压电陶瓷调制器的测量装置和方法
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Application No.: CN202411099063.7Application Date: 2024-08-12
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Publication No.: CN118937826APublication Date: 2024-11-12
- Inventor: 殷小东 , 周峰 , 黄俊昌 , 胡浩亮 , 岳长喜 , 刁赢龙 , 张民 , 陈争光 , 郭贤珊 , 陈昱卓 , 李建光 , 周玮 , 李嘉鑫 , 江宇舟 , 徐子立 , 潘瑞 , 聂琪 , 李小飞 , 曾非同 , 王翰 , 熊前柱 , 刘京 , 杨春燕
- Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司武汉分院
- Applicant Address: 北京市海淀区清河小营东路15号; ;
- Assignee: 中国电力科学研究院有限公司,国家电网有限公司,中国电力科学研究院有限公司武汉分院
- Current Assignee: 中国电力科学研究院有限公司,国家电网有限公司,中国电力科学研究院有限公司武汉分院
- Current Assignee Address: 北京市海淀区清河小营东路15号; ;
- Agency: 北京工信联合知识产权代理有限公司
- Agent 姜丽辉
- Main IPC: G01R29/22
- IPC: G01R29/22

Abstract:
本发明公开了一种用于测量压电陶瓷调制器的测量装置和方法,包括:窄线宽激光器用于产生稳定的激光,将所述激光作为输入光,注入到第一光纤耦合器;第一光纤耦合器的输出端,分别与被测的压电陶瓷调制器和所述光纤延迟线连接;第一光纤耦合器输出的光信号,分别输出至被测的压电陶瓷调制器和所述光纤延迟线;被测的压电陶瓷调制器的输出端和光纤延迟线与第二光纤耦合器的输入端连接;被测的压电陶瓷调制器和光纤延迟线输出的光纤信号注入到第二光纤耦合器;第二光纤耦合器的输出端与光示波器连接。解决现有压电陶瓷调制器的性能测量缺失的问题。
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