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公开(公告)号：CN119414103A
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202411550685.7
申请日：2024-11-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种压电陶瓷的压电系数温度特性测试系统及方法，属于压电系数测试技术领域。解决了现有技术中传统的压电陶瓷的压电系数测试系统及方法无法对高温环境下的压电陶瓷进行原位表征的问题；本发明设计了压电系数温度特性测试系统，根据获取的理想温度和温度传感器采集待测样品的实际温度，采用加热器的当前输出功率对夹具系统加热，通过控制驱动装置模块对振动台输出正弦交变驱动电压，振动台对夹具系统施加正弦交变力；将待测样品和参考样品两端的电荷转换为电压信号，计算得到对应温度下的待测样品的压电系数。本发明有效实现了对高温环境下的压电陶瓷进行原位压电系数表征，可以应用于高温测试压电陶瓷的压电系数。
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公开(公告)号：CN111208361B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202010110689.9
申请日：2020-02-24
Applicant: 南京广慈医疗科技有限公司
IPC: G01R29/22
Abstract: 本发明公开了一种压电陶瓷声学测试装置，其包括夹具底座、正极支座、正极压环和负极压环，所述正极支座、正极压环和负极压环从下往上均可拆卸安装在夹具底座上，压电陶瓷的内圈支撑于正极支座的顶部端面上，并通过正极压环进行密封固定，压电陶瓷的外圈支撑于夹具底座的四周内壁上，并通过负极压环进行密封固定，所述负极压环上连接有负极引线，并且负极压环与压电陶瓷的凹面之间通过导电连接件进行导电连接，所述正极支座上连接有正极引线，并且正极支座与压电陶瓷的凸面导电性接触。本发明可以随时安装与拆解，只需要将压电陶瓷安装就可以测试，不需要焊接引线，不会对压电陶瓷造成任何的损伤。
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公开(公告)号：CN117606384B
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202311544972.2
申请日：2023-11-20
Applicant: 浙江数瞳智能科技有限公司
Inventor： 王立军
Abstract: 本发明提供一种基于数据分析的MEMS微镜压电晶体成品检测系统，用于解决压电晶体检测不准确的问题，包括摄像机、图片生成单元以及图片判断单元；控制器控制摄像机对待检测的压电晶体进行录像，生成录像视频，图片生成单元接收录像视频对每个待检测的压电晶体生成多张图片，对多张图片进行排序，根据排序的图片一一对压电晶体进行验证，生成验证信息，图片判断单元接收验证信息验证，验证不合格则判定压电晶体不规则，验证合格，则判定压电晶体为规则图形；本发明在压电晶体检测过程中，对压电晶体图片信息对压电晶体的形状进行判断，基于压电晶体的特性对压电晶体进行检测，提高压电晶体检测的准确性。
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公开(公告)号：CN117606384A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311544972.2
申请日：2023-11-20
Applicant: 浙江数瞳智能科技有限公司
Inventor： 王立军
Abstract: 本发明提供一种基于数据分析的MEMS微镜压电晶体成品检测系统，用于解决压电晶体检测不准确的问题，包括摄像机、图片生成单元以及图片判断单元；控制器控制摄像机对待检测的压电晶体进行录像，生成录像视频，图片生成单元接收录像视频对每个待检测的压电晶体生成多张图片，对多张图片进行排序，根据排序的图片一一对压电晶体进行验证，生成验证信息，图片判断单元接收验证信息验证，验证不合格则判定压电晶体不规则，验证合格，则判定压电晶体为规则图形；本发明在压电晶体检测过程中，对压电晶体图片信息对压电晶体的形状进行判断，基于压电晶体的特性对压电晶体进行检测，提高压电晶体检测的准确性。
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公开(公告)号：CN117233486A
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202311187042.6
申请日：2023-09-14
Applicant: 吉林大学
IPC: G01R29/22
Abstract: 本发明涉及一种测量铁电材料的铁电性能的方法，在室温条件下，在金刚石对顶砧装置中，将待测量的铁电材料样品加入至金刚石对顶砧装置中，利用金刚石对顶砧装置对样品腔内部加压力，对施加压力的控制，通过对不同压力点进行高压原位铁电测试，得到电滞回线随压力规变化的律性。进而获取压力对铁电材料的电滞回线、剩余极化强度、储能效率等的调控作用。本发明提供的方法这对于拓展铁电材料的功能特性和应用领域具有重要的意义。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115808382A
公开(公告)日：2023-03-17
申请号：CN202310050910.X
申请日：2023-02-02
Applicant: 深圳裕典通微电子科技有限公司
Abstract: 本发明涉及一种应用于压力传感器的压电薄膜在线检测方法及系统，本发明通过获取待测压电薄膜的尺寸参数，基于所述尺寸参数得到待测压电薄膜的预设压电常数，获取待测压电薄膜的实际压电常数，将所述实际压电常数与预设压电常数进行对比，若所述实际压电常数大于预设压电常数，则将该压电薄膜转移至下一加工工站；若所述实际压电常数不大于预设压电常数，则获取所述待测压电薄膜所反馈的涡流信息，基于所述涡流信号得到所述待测压电薄膜的实际孔隙率，能够避免不合格的半成品流入下一加工工站上，从而预防出现对不合格的半成品依旧进行加工的情况，节省了加工时间，有效的降低了加工成本。
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公开(公告)号：CN114441872B
公开(公告)日：2023-03-10
申请号：CN202210043180.6
申请日：2022-01-14
Applicant: 西南交通大学
IPC: G01R29/22
Abstract: 一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法，该评估方法的流程图如图2所示。其评估步骤为：通过冲击发生器对ZnO压敏电阻进行冲击，通过记录冲击次数和测得的冲击后的温度值得到ZnO压敏电阻在不同冲击次数和温度下的工作电流因子，最终结合工作电流因子和工作电压因子得到ZnO压敏电阻的老化状态评估因子，根据计算得出的ZnO压敏电阻的老化状态评估因子判断ZnO压敏电阻的老化状态。本发明的有益效果在于提供了一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法，并搭建了试验平台，且主要实现方法就是考虑ZnO压敏电阻的老化状态评估因子，对电力通信系统的稳定运行具有重要意义。
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公开(公告)号：CN114966243A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210698713.4
申请日：2022-06-20
Applicant: 中国科学院上海硅酸盐研究所
Inventor： 周志勇
Abstract: 本发明公开一种多功能压电性能测试装置。所述多功能压电性能测试装置包括U形支撑杆、支撑直杆、绝缘支撑台和电磁控制器；所述U形支撑杆具有长杆和短杆，长杆穿过绝缘支撑台的通孔与支撑弹簧连接，短杆和支撑直杆的其中一个端部夹持待测样品；支撑直杆相对远离待测样品的另一端部穿过绝缘支撑台的通孔与振动源连接；通过电磁控制器的打开或者关闭来实现待测样品在自由振动状态和夹持振动状态之间的转换。
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公开(公告)号：CN114441872A
公开(公告)日：2022-05-06
申请号：CN202210043180.6
申请日：2022-01-14
Applicant: 西南交通大学
IPC: G01R29/22
Abstract: 一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法，该评估方法的流程图如图2所示。其评估步骤为：通过冲击发生器对ZnO压敏电阻进行冲击，通过记录冲击次数和测得的冲击后的温度值得到ZnO压敏电阻在不同冲击次数和温度下的工作电流因子，最终结合工作电流因子和工作电压因子得到ZnO压敏电阻的老化状态评估因子，根据计算得出的ZnO压敏电阻的老化状态评估因子判断ZnO压敏电阻的老化状态。本发明的有益效果在于提供了一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法，并搭建了试验平台，且主要实现方法就是考虑ZnO压敏电阻的老化状态评估因子，对电力通信系统的稳定运行具有重要意义。
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